[发明专利]自电容数据的处理方法及装置

说明书

本申请提供一种自电容数据的处理方法及装置，包括：获取每一方向电极对应的自电容容值变化量和互电容容值变化量；针对每一方向电极对应的自电容容值变化量，根据方向电极对应的互电容容值变化量，对方向电极对应的自电容容值变化量进行归一化，得到每一自电容容值变化量对应的归一化结果；利用处于指定范围内的归一化结果进行触点的定位。消除因温度变化引起的自电容容值变化量对触点定位的影响。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别涉及一种自电容数据的处理方法及装置、触控芯片、计算机可读存储介质。

背景技术

自互一体式触控系统是指自电容和互电容同时扫描式触控屏的控制系统。包含此控制系统的触控屏可以同时拥有自电容式触控屏和互电容式触控屏的优点，即既能支持十指触控又具备较好的防水性能。

自电容的扫描方式，检测横向与纵向电极阵列，根据触摸前后电容的变化，分别确定横向坐标和纵向坐标，然后组合成平面的触摸坐标。自电容的扫描数据只具有n个横向扫描数据和m个纵向扫描数据，分别对应了触控屏中行和列的触摸情况，数据总量为n+m个(n表示横向扫描电极的数量，m表示纵向扫描电极的数量)，故数据处理量小，响应速度快。互电容是横向电极和纵向电极之间的耦合电容，检测互电容大小时，横向的电极依次发出激励信号，纵向的所有电极同时接收信号，这样可以得到所有横向和纵向电极交汇点的电容值大小，即整个触摸屏的二维平面的电容大小。根据触摸屏二维电容变化量数据，可以计算出每一个触摸点的坐标。因此，屏上即使有多个触摸点，也能计算出每个触摸点的真实坐标。互电容的扫描数据数量为n*m个，具备更强的二维空间定位精度。

但是，自电容是电极对地的电容，故温度变化导致自电容数据面临严重的温漂问题，自电容数据的温漂会对触点的定位造成干扰。

发明内容

本申请实施例提供了自互一体式触控系统中自电容数据的处理方法，用以解决自电容数据的温漂问题。

一方面，本申请实施例提供了一种自电容数据的处理方法，包括：

获取每一方向电极对应的自电容容值变化量和互电容容值变化量；

针对每一方向电极对应的自电容容值变化量，根据所述方向电极对应的互电容容值变化量，对所述方向电极对应的自电容容值变化量进行归一化，得到每一自电容容值变化量对应的归一化结果；

利用处于指定范围内的归一化结果进行触点的定位。

在一实施例中，根据所述方向电极对应的互电容容值变化量，对所述方向电极对应的自电容容值变化量进行归一化，包括：

从所述方向电极对应的所有互电容容值变化量中筛选出大于第一阈值的互电容容值变化量；

对筛选出的互电容容值变化量进行加和，得到容值变化累加值；

根据已知的互电容容值变化最大值以及所述容值变化累加值，对所述方向电极对应的自电容容值变化量进行归一化。

在一实施例中，根据已知的互电容容值变化最大值以及所述容值变化累加值，对所述方向电极对应的自电容容值变化量进行归一化，采用以下公式：

ScRXAdj_n＝ScRx_n×McMax/RxMcSum

其中，ScRXAdj_n表示归一化结果，ScRx_n表示自电容容值变化量，McMax表示互电容容值变化最大值，RxMcSum表示容值变化累加值。

在一实施例中，对所述方向电极对应的自电容容值变化量进行归一化之前，所述方法还包括：

获取每个检测点的互电容数据；

针对每个检测点，将所述检测点的互电容数据与基准电容进行比较，获得每个检测点的容值变化量；