[发明专利]光束取样器角度特性测量装置及方法

权利要求书

1.光束取样器角度特性测量装置，其特征在于，包括按照光路依次设置的激光器(1)、激光处理组件、取样器(4)、激光测量组件，所述取样器(4)和激光测量组件模块通过二维移动平台设置在转盘(9)上，光路位于转盘(9)圆心的正上方；

所述激光测量组件包括依次设置的拟探测单元靶面孔(5)、功率计(6)；

或包括依次设置的成像屏(7)、相机(8)，还包括与相机(8)连接的数据处理系统(10)；

所述激光处理组件包括沿光路依次设置的扩束镜(2)、小孔光阑(3)。

2.使用权利要求1所述的光束取样器角度特性测量装置的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、调节取样器(4)的第一散射面与入射激光光轴的交点在转盘圆心正上方，

并调节光路内所有部件；

S2、转动转盘(9)角度，改变取样器(4)接收角度；

S3、激光测量组件在不同角度下的测量值；

S4、汇总不同角度与对应的测量值获得曲线，得出角度特性。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述激光测量组件包括依次设置的拟探测单元靶面孔(5)、功率计(6)时，步骤S3的测量值为功率值。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述激光测量组件包括依次设置的成像屏(7)、相机(8)时，在步骤S1中，调节光路具体包括以下步骤：

S121、调焦，将相机(8)对焦成像屏(7)位置，读出此时的标尺数据；

S122、设置相机(8)采集参数；

S123、在测量所需的曝光时间下实时生成环境背景。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，步骤S3中测量值为光斑图像信息。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，步骤S4具体为：针对数据处理系统(10)汇总不同角度对应的光斑图像信息，得到取样器(4)角度特性曲线。

7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在步骤S1中，调节与入射激光光轴的交点在转盘圆心正上方的具体步骤如下所述：

S111、安装激光器(1)和转盘(9)时，保证入射激光光轴经过转盘(9)的圆心正上方；

S112、将取样器(4)、激光测量组件安装在二维移动平台上，打开激光光源，通过调节激光处理组件中的小孔光阑(3)，使从小孔光阑(3)中发出的光斑大小应为中心较为均匀的区域，且所述区域足以覆盖取样器(4)的一个取样孔但不足以覆盖两个取样孔；

S113、移动二维移动平台中垂直于光轴方向的第二滑轨，使得光斑对准取样器(4)第一散射面的一个取样孔；

S114、转动转盘(9)，观察光斑是否还覆盖同一取样孔，如果光斑射到取样孔外，则调节二维移动平台中与光轴方向平行的第一滑轨，使得光斑再次覆盖该取样孔；

S115、重复步骤S113和步骤S114，调整直到转动转盘(9)到第一设定范围内，光斑的位置在误差范围内移动，则表示已经调好圆心位置，即取样器(4)的第一散射面与入射激光光轴的交点在转盘圆心正上方。