[发明专利]光束取样器角度特性测量装置及方法有效
申请号: | 202010557771.6 | 申请日: | 2020-06-18 |
公开(公告)号: | CN111795802B | 公开(公告)日: | 2022-02-15 |
发明(设计)人: | 管雯璐;侯再红;谭逢富;秦来安;何枫;吴毅 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 合肥兴东知识产权代理有限公司 34148 | 代理人: | 王伟 |
地址: | 230088 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光束 取样 角度 特性 测量 装置 方法 | ||
光束取样器角度特性测量装置及方法,装置包括按照光路依次设置的激光器、激光处理组件、取样器、激光测量组件,所述取样器和激光测量组件模块通过二维移动平台设置在转盘上,光路位于转盘圆心的正上方。本发明通过转盘改变取样器激光接收角度,在改变过程中保证光路始终经过取样器的中心,从而使得激光测量组件获得的值更加准确,从而获得更加准确的获得角度特性。
技术领域
本发明涉及激光光束取样的领域,尤其涉及光束取样器角度特性测量装置及方法。
背景技术
激光在大气等介质中传输,由于与传输介质的相互作用,实际应用中需要对输出激光特性参数进行测量,获取激光光斑尺寸、光束质量、质心漂移等参数,用于分析激光的大气传输效应和评价激光系统控制能力、跟踪瞄准能力等。在激光束测量过程中,首先需要对待测激光束进行空间取样,但现有取样技术主要缺点在于测量具有角度敏感性。
发明内容
为了解决激光入射角度改变后,取样光斑的强度值也会改变,进而引入测量不确定度的问题,本发明提供光束取样器角度特性测量装置及方法。
光束取样器角度特性测量装置,包括按照光路依次设置的激光器、激光处理组件、取样器、激光测量组件,所述取样器和激光测量组件模块通过二维移动平台设置在转盘上,光路位于转盘圆心的正上方。
使用上述的光束取样器角度特性测量装置的方法,包括以下步骤:
S1、调节取样器的第一散射面与入射激光光轴的交点在转盘圆心正上方,并调节光路;
S2、转动转盘角度,改变取样器接收角度;
S3、激光测量组件在不同角度下的测量值;
S4、汇总不同角度与对应的测量值获得曲线,得出角度特性。
本发明的优点在于:
(1)本发明通过转盘改变取样器激光接收角度,在改变过程中保证入射激光始终经过取样器的同一位置,从而使得激光测量组件获得的值更加准确,从而获得更加准确的角度特性。
(2)本发明采用两种光束取样器角度特性测量装置和对应的方法,一种是采用功率计直接测量透过取样器的激光强度;另一种是基于相机成像,将相机采集到的图像信息通过数据处理系统转化为探测单元响应值,最后得出透过取样器测量到的激光强度与激光入射角度的关系,即其角度特性。
(3)功率计直接测量法直接简便,测得是实际功率值,不需经过数据处理换算。
(4)扩束镜的作用是将入射激光扩束成均匀区域相对大的光束,因为若实验激光光斑高斯分布较为尖锐,那么在光路对准时偏移的小角度便会引起较大的测量误差。为了减小实验误差,实验中使用扩束镜将入射激光束扩成均匀区域分布相对较大的光斑,同时也可以降低人为对准、手动加持元器件的操作精度要求。
附图说明
图1为光束取样器角度特性测量装置第一种方案的系统结构图;
图2为光束取样器角度特性测量装置第二种方案的系统结构图;
图3为相机拍摄的光斑图;
图4为处理后的光斑图像;
图5光束取样器角度特性测量装置为第一种方案时对应的方法流程图;
图6光束取样器角度特性测量装置为第二种方案时对应的方法流程图。
图中标注符号的含义如下:
1-激光器 2-扩束镜 3-小孔光阑 4-取样器
5-拟探测单元靶面孔 6-功率计
7-成像屏 8-相机 9-转盘 10-数据处理系统
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院合肥物质科学研究院,未经中国科学院合肥物质科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010557771.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。