[发明专利]一种利用计算机检测瓦楞纸品质的方法、瓦楞纸生产控制系统

说明书

一种利用计算机检测瓦楞纸品质的方法，用于检测瓦楞纸厚度尺寸是否大于预设的标准厚度；如果瓦楞纸厚度尺寸大于预设的标准厚度，则为认定为次品；如果瓦楞纸厚度尺寸不大于预设的标准厚度，则为认定为本工段的良品；前景色（S‑B1）的颜色值与背景色（S‑B2）的颜色值不同。瓦楞纸生产控制系统，采用所述的一种利用计算机检测瓦楞纸品质的方法，检测瓦楞纸厚度是否超厚。本发明提供了一种检测瓦楞纸品质的新思路；本发明快速、准确、低成本。

技术领域

本发明涉及瓦楞纸生产领域，具体涉及一种利用计算机检测瓦楞纸品质的方法、瓦楞纸生产控制系统。

背景技术

瓦楞纸是一个多层的黏合体，它最少由一层波浪形芯纸夹层(俗称“坑张”、“瓦楞纸”、“瓦楞芯纸”、“瓦楞纸芯”、“瓦楞原纸”)及一层纸板(又称“箱板纸”、“箱纸板”)构成。它有很高的机械强度，能抵受搬运过程中的碰撞和摔跌。瓦楞纸箱的实际表现取决于三项因素：芯纸和纸板的特性及纸箱本身的结构。

瓦楞纸价格便宜、容易降解、性能优越，是现代快递的包装首选，在生产瓦楞纸时，由于生产工艺或机器错误，可能导致瓦楞纸厚度尺寸大于客户标准尺寸，这种超厚产品对于厂家而言会导致成本升高，对社会而言，是自愿浪费；同一标准下，厚度超过标准的瓦楞纸其重量往往比标准产品重量大，容易导致邮递成本上升，造成不必要的自愿浪费。

现有技术测试瓦楞纸厚度存在速度慢，现有技术大多采用接触测试容易导致测试不准的问题。

发明内容

为了解决以上技术问题，发明人研究了，一种利用计算机检测瓦楞纸品质的方法、瓦楞纸生产控制系统。

1、一种利用计算机检测瓦楞纸品质的方法，其特征在于：用于检测瓦楞纸厚度尺寸是否大于预设的标准厚度；如果瓦楞纸厚度尺寸大于预设的标准厚度，则为认定为次品；如果瓦楞纸厚度尺寸不大于预设的标准厚度，则为认定为本工段的良品；

基于硬件系统，硬件系统包含检测平台(PT1)、前景板(B1)、背景板(B2)、摄像头、图像采集卡、计算机；

检测平台(PT1)具有样品平面，样品平面用于置放瓦楞纸样品(ZZ)；

检测平台(PT1)的样品平面位于前景板(B1)、背景板(B2)的空间路径上；

前景板(B1)到摄像头的距离大于背景板(B2到摄像头的距离；

前景板(B1)的顶部边缘为水平线，前景板(B1)的顶部水平线到检测平台(PT1)的样品平面的距离等于瓦楞纸的客户标准厚度；

背景板(B2)的顶部边缘为水平线，背景板(B2)的顶部边缘高于前景板(B1)的顶部边缘；

前景板(B1)与前景板(B1)平行；

摄像头的拍摄方向(V)垂直于前景板(B1)；

前景板(B1)面向摄像头的面具有前景色(S-B1)；

背景板(B2)面向摄像头的面具有背景色(S-B2)；

前景色(S-B1)的颜色值与背景色(S-B2)的颜色值不同；

摄像头与图像采集卡之间具有数据连接，图像采集卡与计算机之间具有数据连接；图像采集卡能够将摄像头所拍摄到的图像数据，输送到计算机内；

计算机具有判断放置在检测平台的样品平面上的瓦楞纸是否为厚度超标的次品的能力，这个能力依靠‘图像判断操作流程’实现；

进一步的：图像判断操作流程，如下：

图像判断操作流程的预备操作如下：预备操作是为了有时序的步骤做准备，预备操作没有时序要求；