[发明专利]高兼容SD卡模型和基于高兼容SD卡模型的控制器测试方法

权利要求书

1.一种高兼容SD卡模型，其特征在于，所述SD卡模型包括：

多类型参数物理层，所述多类型参数物理层配置有多种SD卡类型及各种SD卡类型对应的通信协议；

功能参数描述层，所述功能参数描述层配置有多种SD卡类型对应的功能参数；

参数切换模块，所述参数切换模块根据选定的目标SD卡类型调用相应通信协议和相应功能参数。

2.根据权利要求1所述的高兼容SD卡模型，其特征在于，所述功能参数包括速率参数项、数据位宽参数项、Partial读写参数项、Misalign读写项和读写地址处理项。

3.根据权利要求2所述的高兼容SD卡模型，其特征在于，所述速率参数项包括高速状态和低速状态，所述高速状态通过时钟上升沿触发，所述低速状态通过时钟下降沿触发。

4.根据权利要求1所述的高兼容SD卡模型，其特征在于，所述SD卡模型还包括：

读数据存储模块，所述读数据存储模块包括多个数据块，所述多个数据块分别对应多种SD卡类型；所述多个数据块均存储读测试数据，所述读测试数据根据SD卡类型的特定存储路径保存至相应的数据块。

5.根据权利要求1所述的高兼容SD卡模型，其特征在于，还包括：

测试记录模块，所述测试记录模块保存所述高兼容SD卡模型写入的数据和生成的日志；所述测试记录模块的数据存储路径和日志存储路径均由测试代码顶层根据SD卡类型指定。

6.一种基于高兼容SD卡模型的控制器测试方法，其特征在于，所述方法包括：

连接SD控制器和高兼容SD卡模型；

所述SD控制器选定测试SD卡类型并将所述测试SD卡类型发送至所述高兼容SD卡模型的参数切换模块；

所述参数切换模块根据所述测试SD卡类型从多类型参数物理层调用相应通信协议并从功能参数描述层调用相应功能参数，根据所述相应通信协议和相应功能参数将所述高兼容SD卡模型配置为所述测试SD卡类型；

所述SD控制器对配置为所述测试SD卡类型的高兼容SD卡模型执行读写测试。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

利用文本编辑工具生成读测试数据，所述读测试数据包括顺序数和随机数；

根据预先设定的所述测试SD卡类型的相应文件存储路径将所述测试数据保存至高兼容SD卡模型的所述相应文件存储路径下。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，参数切换模块从功能参数描述层调用相应功能参数的方法，包括：

根据测试SD卡类型的相应功能参数设置速率参数项、数据位宽参数项、Partial读写参数项、Misalign读写项和读写地址处理项的具体参数值。

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将所述SD控制器向所述高兼容SD卡模型写入的数据保存至所述测试SD卡类型对应的数据存储路径下；

将所述读写测试过程中生成的测试日志保存至所述测试SD卡类型对应的日志存储路径下。