[发明专利]高兼容SD卡模型和基于高兼容SD卡模型的控制器测试方法

说明书

本发明提供一种高兼容SD卡模型和基于高兼容SD卡模型的控制器测试方法，所述SD卡模型包括：多类型参数物理层，所述多类型参数物理层配置有多种SD卡类型及各种SD卡类型对应的通信协议；功能参数描述层，所述功能参数描述层配置有多种SD卡类型对应的功能参数；参数切换模块，所述参数切换模块根据选定的目标SD卡类型调用相应通信协议和相应功能参数。可有效提高模型的兼容性、灵活性、仿真验证覆盖率和验证效率。兼容各种SD卡类型和版本，仅需要修改参数即可达到测试不同SD卡的目的。此外，当SD卡版本更新时，代码可方便扩展，以快速适应新版本SD卡的仿真测试。

技术领域

本发明大数据服务平台技术领域，具体涉及一种高兼容SD卡模型和基于高兼容SD卡模型的控制器测试方法。

背景技术

SD卡作为一种具有安全性高、高性能、体积小巧、便携及可热插拔等优点的存储设备，近年来成为电子产品广泛采用的存储扩展方式。随着国内芯片设计技术的发展，针对SD卡的设计研究更加重视。验证是保障芯片设计正确性，提高一次性流片成功率的关键，而SD卡模型作为SoC芯片设计验证的重要组成部分，其作用为：1)模拟SD卡实体，可向SD卡控制器提供 SD卡相关基本信息，如容量，版本，工作电压，支持速率等。2)作为从机，接收SD卡控制器命令，模拟完成SD卡初始化、数据读写等功能。3)验证 SD卡控制器功能的正确性，以改进SD卡控制器设计。

随着数字电路对于SD卡的容量、速度的更高要求，SD卡协议也随之相应更新，SD卡控制器设计一般要求做到版本向下兼容，但目前的SD卡模型设计仅完成了针对某种特定协议的主要功能和时序的描述，存在兼容性不足，SD卡类型支持不够灵活，速率模式切换、位宽切换等功能不足，不能有效定位SD卡控制器设计问题等缺点。

发明内容

针对现有技术的上述不足，本发明提供一种高兼容SD卡模型和基于高兼容SD卡模型的控制器测试方法，以解决上述技术问题。

第一方面，本发明提供一种高兼容SD卡模型，包括：

多类型参数物理层，所述多类型参数物理层配置有多种SD卡类型及各种SD卡类型对应的通信协议；

功能参数描述层，所述功能参数描述层配置有多种SD卡类型对应的功能参数；

参数切换模块，所述参数切换模块根据选定的目标SD卡类型调用相应通信协议和相应功能参数。

进一步的，所述功能参数包括速率参数项、数据位宽参数项、Partial 读写参数项、Misalign读写项和读写地址处理项。

进一步的，所述速率参数项包括高速状态和低速状态，所述高速状态通过时钟上升沿触发，所述低速状态通过时钟下降沿触发。

进一步的，所述SD卡模型还包括：

读数据存储模块，所述读数据存储模块包括多个数据块，所述多个数据块分别对应多种SD卡类型；所述多个数据块均存储读测试数据，所述读测试数据根据SD卡类型的特定存储路径保存至相应的数据块。

进一步的，还包括：

测试记录模块，所述测试记录模块保存所述高兼容SD卡模型写入的数据和生成的日志；所述测试记录模块的数据存储路径和日志存储路径均由测试代码顶层根据SD卡类型指定。

第二方面，本发明提供一种基于高兼容SD卡模型的控制器测试方法，包括：

连接SD控制器和高兼容SD卡模型；

所述SD控制器选定测试SD卡类型并将所述测试SD卡类型发送至所述高兼容SD卡模型的参数切换模块；

所述参数切换模块根据所述测试SD卡类型从多类型参数物理层调用相应通信协议并从功能参数描述层调用相应功能参数，根据所述相应通信协议和相应功能参数将所述高兼容SD卡模型配置为所述测试SD卡类型；