[发明专利]一种基于相关的SAR ADC电容失配误差的后台校准方法有效
申请号: | 202010572436.3 | 申请日: | 2020-06-22 |
公开(公告)号: | CN111900983B | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
发明(设计)人: | 吴建辉;张力振;冯金宣;孙志伟;李红 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10;H03M1/08;H03M1/38 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 刘莎 |
地址: | 210096*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 相关 sar adc 电容 失配 误差 后台 校准 方法 | ||
1.一种基于相关的SAR ADC电容失配误差的后台校准方法,其特征在于,所述SAR ADC为包括一个5bit的粗coarse SAR ADC、一个跳过控制逻辑和一个10bit的细fine SAR ADC的10bit子区间subranging SAR ADC,其中fine SAR ADC中的DAC分为5bit的MSB段和7bit的LSB段,LSB段中加入了2bit的冗余去容忍coarse SAR ADC和fine SAR ADC之间的增益误差和比较器失调电压;
在采样相位,输入信号Vin同时被coarse SAR ADC和fine SAR ADC采样;然后,coarseSAR ADC进行MSB 5bit数字码DM的量化;再后,跳过控制逻辑根据DM和伪随机信号PN产生5bit数字码DS,数字码DS用来切换fine SAR ADC的MSB 5bit的电容,从而跳过不必要的开关切换;最后,fine SAR ADC继续完成剩余LSB 7bit的转换,得到7bit数字码DL6~12;
跳过控制逻辑执行如下检测跳过算法:如果第i bit数字码DMi和第i+1bit数字码DM(i+1)不同,那么fine SAR ADC的第i次开关切换会被跳过,1≤i≤4;如果第j bit数字码DMj和第(j+2)bit数字码DM(j+2)不同,1≤j≤3,那么fine SAR ADC的第(j+1)次开关切换将会被跳过;
当fine SAR ADC的某次开关切换被跳过时,电容失配误差权重会同时注入到余量电压中;
通过将7bit数字码DL6~12和PN信号进行相乘,累加取平均后,与PN相关的电容失配误差被提取出来。
2.如权利要求1所述的一种基于相关的SAR ADC电容失配误差的后台校准方法,其特征在于,若fine SAR ADC中5bit MSB DAC具有失配误差,6bit LSB DAC是理想的,当跳过控制逻辑控制fine SAR ADC跳过不必要的开关切换时,电容失配误差权重会同时注入到余量电压中:当5bit数字码DM全为1或者0时,检测LSB段的第一位数字码DL6,如果DL6和DM相反则将MSB段的最低位和LSB段的最高位电容切换操作进行交换,从而将MSB段的最低位电容失配误差注入到余量电压中。
3.如权利要求2所述的一种基于相关的SAR ADC电容失配误差的后台校准方法,其特征在于,将LSB DAC分为两个大小相等的电容阵列,在两个相邻的周期,LSB数字码交替地交换参考电压,最终使得LSB段的电容失配误差得以平均并减小。
4.如权利要求1所述的一种基于相关的SAR ADC电容失配误差的后台校准方法,其特征在于,fine SAR ADC采用下极板采样和基于共模的开关算法。
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