[发明专利]一种高功率激光增透膜透过率测量方法及其测量装置有效

专利信息
申请号: 202010574555.2 申请日: 2020-06-22
公开(公告)号: CN111650163B 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 李铭;达争尚;段亚轩;陈永权;李红光;袁索超;王璞 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 史晓丽
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 功率 激光 增透膜 透过 测量方法 及其 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种高功率激光增透膜透过率测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)控制计算机(8)控制激光光源设备(1)输出准直光束;

2)通过干涉光路将准直光束分为两束光,并调节干涉光路,使两束光在探测系统(7)中形成第一干涉条纹图像;

3)样品台(6)将表面镀增透膜的待测透射元件切入干涉光路中,调整待测透射元件的方位角,在探测系统(7)中形成第二干涉条纹图像;

4)首先,控制计算机(8)对第一干涉条纹图像和第二干涉条纹图像进行滤波去噪处理;

其次,控制计算机(8)从滤波去噪后的第一干涉条纹图像中提取第一干涉条纹强度的最大值Imax和最小值Imin,并计算第一干涉条纹图像的对比度v;

第一干涉条纹图像的对比度v的计算公式为:

再次,控制计算机(8)从滤波去噪后的第二干涉条纹图像中提取第二干涉条纹强度的最大值Imax′和最小值Imin′,并计算第二干涉条纹图像的对比度v′;

第二干涉条纹图像的对比度v′的计算公式为:

最后,控制计算机(8)得到待测透射元件对比度的变化量为:dv=v′-v;

5)根据下述公式计算待测透射元件透过率T:

6)将待测透射元件多次切入和切出光路进行测量,求得待测透射元件透过率T的平均值作为待测透射元件透过率的测量值。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010574555.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top