[发明专利]一种微阵列芯片激光共焦扫描仪的校准方法

说明书

本发明提供了一种微阵列芯片激光共焦扫描仪的校准方法：步骤1、对标准机和被校仪器的荧光校准通道设置扫描参数，对同一校准芯片进行扫描，得到一组标准数据和待测数据；步骤2、计算该组数据的线性相关系数和斜率；步骤3、更改参数重复步骤1和步骤2共N次，得到N组的线性相关系数和斜率；步骤4、根据每组数据的线性相关系数，得到符合修正条件的组数M；步骤5；判断符合步骤4修正条件的组数的斜率，得到数据是否符合修正条件的组数L，符合则计算L组数据的斜率均值；步骤6、将斜率均值作为修正值，完成该通道的校准；步骤7、更换荧光通道重复步骤1～6，完成多通道的校准。本发明校准方法提高校准数据量，校准覆盖面更广。

技术领域

本发明涉及微阵列芯片扫描仪校准领域，特别涉及一种微阵列芯片激光共焦扫描仪的校准方法。

背景技术

微阵列检测仪器是革命性的生物技术。通过应用这些仪器，人们能够自动读取微阵列信息，在短短几分钟内获取大量的数据。大多数此类仪器中都应用荧光进行检测，这种方法能够在一个微阵列上同时检测多种生物样品，应用它研究人员能够生物样本的转录子进行检测。检测过程中要对整个微阵列的各个位置结合在靶标分子上的探针分子进行识别，然后把检测结果转换成微阵列图像，即微阵列的一张照片。微阵列图像提供了一个与微阵列上分子反应相对应的信息，这些信息直接反映了生物样品中该分子的类型和数量。随着共聚焦微阵列扫描技术的成熟，微阵列检测仪器临床诊断中逐渐普及。作为一款集成光源、光路及信号采集系的精密仪器，对检测的灵敏度要求极高。随着使用时间延长产生的光源衰减、光路漂移、使用过程中的PMT抖动等微小变化，都可能对结果的判读产生影响，因此采用合适的方法对微阵列芯片扫描仪进行校准是非常必要的。

发明内容

针对上述存在的问题，本发明提供了一种可对微阵列芯片扫描仪荧光信号范围进行校准，同时可以满足单通道微阵列芯片扫描仪和双通道微阵列芯片扫描仪，且操作简单，校准芯片更容易制备的校准方法更适合推广。

本发明采用的技术方案如下：一种微阵列芯片激光共焦扫描仪的校准方法，包括：

步骤1、分别对标准机和被校仪器的荧光校准通道设置相同的扫描参数，分别对同一校准芯片进行扫描，得到一组标准数据和待测数据；

步骤2、将标准数据与待测数据做截距为零的线性拟合，计算该组数据的线性相关系数和斜率；

步骤3、设置不同的扫描参数重复步骤1和步骤2共N次，得到N组数据的线性相关系数和斜率；

步骤4、判断线性相关系数符合标准的数据组数M，若符合标准的数据组数M不符合修正值条件，则表示被校准仪器与比标准机相比误差过大，需对被校准仪器重新进行性能调试，降低误差后再进入步骤1；

步骤5、判断符合步骤4的数据组的斜率符合标准的数据组数L，若斜率符合标准的数据组数L不符合修正条件，则表示被校准仪器与比标准机相比误差过大，需对被校准仪器重新进行性能调试，降低误差后进入步骤1；若斜率符合标准的数据组数L符合修正条件，则计算L组数据的斜率均值；

步骤6、将斜率均值作为被校准仪器在该荧光检测通道及设置参数范围内的修正值，对被校准仪器进行校准；

步骤7、更换荧光通道重复步骤1～6，完成被校准仪器其他荧光通道的校准。

进一步的，所述步骤3中，采用过原点的线性回归分析法进行拟合，计算得到每组数据的线性相关系数和斜率。

进一步的，所述步骤4中，数据组数N不少于6。

进一步的，所述步骤5中，所述判断线性相关系数符合标准的方法为：线性相关系数大于0.9的数据为符合标准，符合标准的数据组数M不少于5组。

进一步的，所述步骤5中，所述修正条件为：符合步骤4标准的数据组斜率值的变异系数CV值小于5％，且数据组数L不少于4组。