[发明专利]X射线成像装置和X射线成像方法在审

专利信息
申请号: 202010590946.3 申请日: 2020-06-24
公开(公告)号: CN112304986A 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 森本直树;木村健士;白井太郎;土岐贵弘 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N23/041 分类号: G01N23/041;G01N23/083;G01N23/20025;G01N23/20
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 成像 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种X射线成像装置,具备:

X射线源;

检测器,其检测从所述X射线源照射并通过了被摄体的X射线;以及

图像处理部,其基于由所述检测器得到的X射线的检测数据,通过重构处理来获取三维的体数据,

其中,所述图像处理部构成为:从所述体数据获取多个切片图像数据,通过对获取到的所述多个切片图像数据中的各个切片图像数据进行作为第一处理的微分处理,来获取各自与所述多个切片图像数据中的各个切片图像数据对应的多个第一处理图像数据,通过对获取到的所述多个第一处理图像数据进行包括加法处理的第二处理,来获取多个第二处理图像数据,基于获取到的所述多个第二处理图像数据来检测所述被摄体的边缘,获取包括检测到的所述被摄体的边缘的边缘图像数据。

2.根据权利要求1所述的X射线成像装置,其中,

所述图像处理部构成为:通过对所述多个第一处理图像数据进行作为包括加法处理的所述第二处理的平均化处理,来获取所述多个第二处理图像数据。

3.根据权利要求2所述的X射线成像装置,其中,

所述图像处理部构成为:通过对所述多个第一处理图像数据中的一部分的第一处理图像数据进行作为所述第二处理的平均化处理,来获取一个第二处理图像数据。

4.根据权利要求1所述的X射线成像装置,其中,

所述被摄体具有随机配置的多个板层叠而成的构造,

所述图像处理部构成为:检测所述被摄体的板的边缘,获取包括检测到的所述被摄体的板的边缘的所述边缘图像数据。

5.根据权利要求4所述的X射线成像装置,其中,

所述图像处理部构成为:还对所述多个第二处理图像数据进行作为第三处理的投影处理,由此获取第三处理图像数据,基于获取到的所述第三处理图像数据来检测所述被摄体的板的边缘,获取包括检测到的所述被摄体的板的边缘的所述边缘图像数据。

6.根据权利要求5所述的X射线成像装置,其中,

所述图像处理部构成为获取正侧第三处理图像数据和负侧第三处理图像数据来作为所述第三处理图像数据,所述正侧第三处理图像数据是将在微分处理时以正的信号表示的所述被摄体的板的边缘即正边缘汇集成一个所得到的,所述负侧第三处理图像数据是将在微分处理时以负的信号表示的所述被摄体的板的边缘即负边缘汇集成一个所得到的。

7.根据权利要求6所述的X射线成像装置,其中,

所述图像处理部构成为:通过对所述正侧第三处理图像数据进行极大值检索处理来从所述正侧第三处理图像数据检测所述正边缘,并且通过对所述负侧第三处理图像数据进行极小值检索处理来从所述负侧第三处理图像数据检测所述负边缘,获取包括检测到的所述正边缘和所述负边缘的所述边缘图像数据。

8.根据权利要求1所述的X射线成像装置,其中,

所述X射线成像装置还具备:

第一光栅,其配置在所述X射线源与所述检测器之间,被照射来自所述X射线源的X射线;以及

第二光栅,其配置在所述第一光栅与所述检测器之间,被照射通过了所述第一光栅的X射线。

9.根据权利要求8所述的X射线成像装置,其中,

所述图像处理部构成为基于暗场像的所述体数据来获取所述边缘图像数据。

10.一种X射线成像方法,包括以下步骤:

检测通过了被摄体的X射线;

基于X射线的检测数据,通过重构处理来获取三维的体数据;

从所述体数据获取多个切片图像数据;

通过对所述多个切片图像数据中的各个切片图像数据进行作为第一处理的微分处理,来获取各自与所述多个切片图像数据中的各个切片图像数据对应的多个第一处理图像数据;

通过对所述多个第一处理图像数据进行包括加法处理的第二处理,来获取多个第二处理图像数据;以及

基于所述多个第二处理图像数据来检测所述被摄体的边缘,获取包括检测到的所述被摄体的边缘的边缘图像数据。

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