[发明专利]X射线成像装置和X射线成像方法在审

专利信息
申请号: 202010590946.3 申请日: 2020-06-24
公开(公告)号: CN112304986A 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 森本直树;木村健士;白井太郎;土岐贵弘 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N23/041 分类号: G01N23/041;G01N23/083;G01N23/20025;G01N23/20
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 射线 成像 装置 方法
【说明书】:

本发明提供一种X射线成像装置和X射线成像方法。该X射线成像装置构成为:从体数据获取多个切片图像数据,通过进行第一处理来获取多个第一处理图像数据,通过进行第二处理来获取多个第二处理图像数据,基于获取到的多个第二处理图像数据来检测被摄体的边缘,获取包括检测到的被摄体的边缘的边缘图像数据。

技术领域

本发明涉及一种X射线成像装置和X射线成像方法。

背景技术

以往,已知一种具备X射线源和检测器的X射线成像装置。这种装置例如在国际公开第2014/030115号中公开。

上述国际公开第2014/030115号公开了一种具备X射线源和X射线检测器的微分相位对比度摄像用X射线摄像系统(X射线成像装置)、。

在此,虽然并未在上述国际公开第2014/030115号中明确记载,但在如上述专利文献1中记载的以往的X射线摄像系统中,有时通过重构处理来获取三维的体数据。在该情况下,有时根据三维的体数据来检测被摄体的边缘。然而,作为被摄体的边缘的检测处理,在进行Canny法等标准的边缘检测处理的情况下,生成因被摄体的三维构造引起的假的边缘,因此存在无法高精度地进行被摄体的边缘解析这样的问题。

发明内容

本发明是为了解决上述问题而完成的,本发明的一个目的在于提供一种能够在根据三维的体数据来检测被摄体的边缘的情况下高精度地进行被摄体的边缘解析的X射线成像装置和X射线成像方法。

为了达成上述目的,本发明的第一方面的X射线成像装置具备:X射线源;检测器,其检测从X射线源照射并通过了被摄体的X射线;以及图像处理部,其基于由检测器得到的X射线的检测数据,通过重构处理来获取三维的体数据,其中,图像处理部构成为:从体数据获取多个切片图像数据,通过对获取到的多个切片图像数据中的各个切片图像数据进行作为第一处理的微分处理,来获取各自与多个切片图像数据中的各个切片图像数据对应的多个第一处理图像数据,通过对获取到的多个第一处理图像数据进行包括加法处理的第二处理,来获取多个第二处理图像数据,基于获取到的多个第二处理图像数据来检测被摄体的边缘,获取包括检测到的被摄体的边缘的边缘图像数据。

本发明的第二方面的X射线成像方法包括以下步骤:检测通过了被摄体的X射线;基于X射线的检测数据,通过重构处理来获取三维的体数据;从体数据获取多个切片图像数据;通过对多个切片图像数据中的各个切片图像数据进行作为第一处理的微分处理,来获取各自与多个切片图像数据中的各个切片图像数据对应的多个第一处理图像数据;通过对多个第一处理图像数据进行包括加法处理的第二处理,来获取多个第二处理图像数据;以及基于多个第二处理图像数据来检测被摄体的边缘,获取包括检测到的被摄体的边缘的边缘图像数据。

根据本发明,如上所述,从三维的体数据获取多个切片图像数据,通过对获取到的多个切片图像数据中的各个切片图像数据进行作为第一处理的微分处理,来获取各自与多个切片图像数据中的各个切片图像数据对应的多个第一处理图像数据。由此,能够获取包括表示真的边缘的信号和表示假的边缘的信号的第一处理图像数据。并且,通过对多个第一处理图像数据进行包括加法处理的第二处理,来获取多个第二处理图像数据。由此,能够获取表示真的边缘的信号不被消除而留下且表示假的边缘的信号被消除的第二处理图像数据。并且,基于多个第二处理图像数据来检测被摄体的边缘,获取包括检测到的被摄体的边缘的边缘图像数据。由此,能够高精度地检测被摄体的边缘,并且能够获取包括高精度地检测到的被摄体的边缘的边缘图像数据。其结果,能够在根据三维的体数据检测被摄体的边缘的情况下,基于包括高精度地检测到的被摄体的边缘的边缘图像数据来高精度地进行被摄体的边缘解析。

附图说明

图1是表示一实施方式的X射线成像装置的结构的图。

图2是表示被一实施方式的X射线成像装置拍摄的被摄体的图。

图3A是表示被摄体的吸收像的一例的照片。

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