[发明专利]层叠型电子部件以及层叠型电子部件的制造方法有效
申请号: | 202010594478.7 | 申请日: | 2020-06-24 |
公开(公告)号: | CN112151270B | 公开(公告)日: | 2021-11-30 |
发明(设计)人: | 桥本英之 | 申请(专利权)人: | 株式会社村田制作所 |
主分类号: | H01G4/12 | 分类号: | H01G4/12;H01G4/30;C04B35/468 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 韩聪 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 层叠 电子 部件 以及 制造 方法 | ||
提供一种层叠型电子部件以及层叠型电子部件的制造方法。层叠型电子部件具备包含层叠的多个电介质层和多个内部电极层的层叠体,多个电介质层具有包含钙钛矿型化合物的多个晶粒,该钙钛矿型化合物包含Ba、第1以及第2稀土类元素而构成,第1稀土类元素的正3价的离子半径和Ba的正2价的离子半径的差小于第2稀土类元素的正3价的离子半径和Ba的正2价的离子半径的差,多个晶粒的至少一部分具有沿着晶粒的晶界而设的第1区域、和位于晶粒的中央部的第2区域,第1区域中的第1稀土类元素的量和第2稀土类元素的量的和多于第2区域中的第1稀土类元素的量和第2稀土类元素的量的和。
技术领域
本公开涉及层叠型电子部件以及层叠型电子部件的制造方法。
背景技术
近年来,层叠陶瓷电容器等层叠型电子部件向车载设备等要求高可靠性的电子设备的应用不断发展。关于层叠型电子部件的可靠性,例如能够利用在高温负荷试验中绝缘电阻下降到给定值所需要的时间的长度(以下,有时只称为寿命)来进行评价。
作为层叠型电子部件的一例,可列举日本特开2013-229551号公报(专利文献1)中记载的层叠陶瓷电容器。专利文献1中记载的层叠陶瓷电容器具备包含BaTiO3和稀土类元素Re的电介质层。
为了使具备包含BaTiO3的电介质层的层叠陶瓷电容器的可靠性提高,需要抑制被施加了直流电压的情况下的电介质层中的氧空穴的移动。为了提高可靠性,通过稀土类元素Re的正3价离子即Re3+来置换BaTiO3的晶格中的Ba的正2价离子即Ba2+是有效的(以下,有时离子的表述仿效上述)。
若如上述那样由Re3+来置换Ba2+,则正电荷变得过剩。因此,生成被视为相对地带负2价电的Ba空穴,以满足电中性条件。该Ba空穴和能够被视为相对地带正2价电的氧空穴形成稳定的缺陷对。Ba空穴即使在被施加了直流电压的情况下也难以移动,因此,与Ba空穴捆绑在一起的氧空穴的移动被抑制。
这里,Ba2+的离子半径和Re3+的离子半径的差越小,则当电介质层的烧结时Re3+越容易置换Ba2+。然而,若Re3+和Ba2+的置换过度进行,则Ba空穴会过剩地产生。因此,当电介质层的烧结时,BaTiO3粒子表面的活性变高,BaTiO3粒子彼此的颈缩容易产生。
因此,粒子成长容易发生,烧成后的电介质层的磁构造变得不均匀。此外,在对电介质层施加了直流电压的情况下,会产生因该磁构造的不均匀而引起的局部的电场集中。其结果,可靠性可能会下降。
另一方面,若Ba2+的离子半径和Re3+的离子半径的差大,则当电介质层的烧结时Re3+难以置换Ba2+。其结果,Re3+向构成烧结后的电介质层的晶粒的晶界偏向。该情况下,上述的Ba空穴捆绑氧空穴的移动的效果变得不充分,可能得不到可靠性提高的效果。
此外,在Re3+以任何形式向晶粒的晶界偏向的情况下,若对电介质层施加直流电压,则在该偏向部位产生局部的电场集中。其结果,可靠性可能会下降。
即,可以认为电介质层中的Re3+的离子半径对层叠陶瓷电容器的可靠性造成影响。然而,专利文献1中针对上述没有任何提及。
发明内容
本公开的目的在于,提供一种具有高可靠性的层叠型电子部件以及其制造方法。
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