[发明专利]死时间校正方法、装置、计算机设备和存储介质

权利要求书

1.一种死时间校正方法，其特征在于，所述方法包括：

获取第一符合事件信息；

利用预先标定的单事件校正模型对所述第一符合事件信息进行死时间校正，得到第二符合事件信息；

利用预先标定的符合事件校正模型对所述第二符合事件信息再次进行死时间校正，得到第三符合事件信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述利用预先标定的单事件校正模型对所述第一符合事件信息进行死时间校正之前，所述方法还包括：

记录标定过程中每次采集的开始时刻、采集时长和单事件计数率；

利用非瘫痪模型和所述每次采集的开始时刻、采集时长和单事件计数率，得到所述单事件校正模型。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述利用预先标定的符合事件校正模型对所述第二符合事件信息再次进行校正之前，所述方法还包括：

记录标定过程中的单事件计数率和符合事件计数率；所述符合事件计数率为根据标定过程中的符合事件信息计算得到的；

基于所述单事件校正模型、所述标定过程中的单事件计数率和符合事件计数率，得到符合单事件比；

根据所述标定过程中的单事件计数率和所述符合单事件比进行模型拟合，得到所述符合事件校正模型。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述标定过程中的单事件计数率和符合事件计数率，得到符合单事件比，包括：

利用所述单事件校正模型分别对所述标定过程中的单事件计数率和符合事件计数率进行校正，得到校正后的单事件计数率和校正后的符合事件计数率；

计算所述校正后的符合事件计数率与所述校正后的单事件计数率的比值，得到所述符合单事件比。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述标定过程中的单事件计数率和所述符合单事件比进行模型拟合，得到所述符合事件校正模型，包括：

以预设活度下的符合单事件比为基准，计算出多个不同活度下的符合单事件比；

根据所述预设活度下的符合单事件比和所述多个不同活度下的符合单事件比，计算出多个活度下的符合单事件比的降低比例；

根据所述标定过程中的单事件计数率和所述多个不同活度下的符合单事件比的降低比例进行模型拟合，得到所述符合事件校正模型。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述标定过程中的单事件计数率和所述多个不同活度下的符合单事件比的降低比例进行模型拟合，得到所述符合事件校正模型，包括：

将所述多个不同活度下符合单事件比的降低比例作为因变量，将所述标定过程中的单事件计数率作为自变量进行多项式模型拟合，得到所述符合事件校正模型。

7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，第一符合事件信息包括瞬时符合事件信息与延迟符合事件信息之和。

8.一种死时间校正装置，其特征在于，所述装置包括：

信息获取模块，用于获取第一符合事件信息；

第一校正模块，用于利用预先标定的单事件校正模型对所述第一符合事件信息进行死时间校正，得到第二符合事件信息；

第二校正模块，用于利用预先标定的符合事件校正模型对所述第二符合事件信息再次进行校正，得到的第三符合事件信息。

9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。