[发明专利]死时间校正方法、装置、计算机设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种死时间校正方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取第一符合事件信息；利用预先标定的单事件校正模型对所述第一符合事件信息进行死时间校正，得到第二符合事件信息；利用预先标定的符合事件校正模型对所述第二符合事件信息再次进行死时间校正，得到第三符合事件信息。采用本方法能够提高死时间校正的准确性。

技术领域

本申请涉及PET技术领域，特别是涉及一种死时间校正方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

PET(Positron Emission Tomography，正电子发射型断层图像)的定量准确性对于临床诊断、疗效观察和愈后评价等均有着重要的影响。在PET的图像重建过程中，死时间效应造成了重建图像像素值的低估，影响了重建图像的定量准确性，因此必须对丢失的有效事件进行正确的补偿，即必须进行死时间校正。

相关技术中，根据实时获得的单事件计数率和预先存储的系统死时间模型(如瘫痪模型、非瘫痪模型或者混合模型等)实时生成死时间校正因子，根据死时间校正因子进行死时间校正。

但是，目前的系统死时间模型对系统计数率损失的描述过于粗糙，导致死时间校正的准确性不够高。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高死时间校正准确性的死时间校正方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种死时间校正方法，该方法包括：

获取第一符合事件信息；

利用预先标定的单事件校正模型对第一符合事件信息进行死时间校正，得到第二符合事件信息；

利用预先标定的符合事件校正模型对第二符合事件信息再次进行死时间校正，得到第三符合事件信息。

在其中一个实施例中，在上述利用预先标定的单事件校正模型对第一符合事件信息进行死时间校正之前，该方法还包括：

记录标定过程中每次采集的开始时刻、采集时长和单事件计数率；

利用非瘫痪模型和每次采集的开始时刻、采集时长和单事件计数率，得到单事件校正模型。

在其中一个实施例中，在上述利用预先标定的符合事件校正模型对第二符合事件信息再次进行校正之前，该方法还包括：

记录标定过程中的单事件计数率和符合事件计数率；符合事件计数率为根据标定过程中的符合事件信息计算得到的；

基于单事件校正模型、标定过程中的单事件计数率和符合事件计数率，得到符合单事件比；

根据标定过程中的单事件计数率和符合单事件比进行模型拟合，得到符合事件校正模型。

在其中一个实施例中，上述基于标定过程中的单事件计数率和符合事件计数率，得到符合单事件比，包括：

利用单事件校正模型分别对标定过程中的单事件计数率和符合事件计数率进行校正，得到校正后的单事件计数率和校正后的符合事件计数率；

计算校正后的符合事件计数率与校正后的单事件计数率的比值，得到符合单事件比。

在其中一个实施例中，上述根据标定过程中的单事件计数率和符合单事件比进行模型拟合，得到符合事件校正模型，包括：

以预设活度下的符合单事件比为基准，计算出多个不同活度下的符合单事件比；

根据预设活度下的符合单事件比和多个不同活度下的符合单事件比，计算出多个活度下的符合单事件比的降低比例；

根据标定过程中的单事件计数率和多个不同活度下的符合单事件比的降低比例进行模型拟合，得到符合事件校正模型。