[发明专利]一种SOC芯片内部时钟的补偿方法及装置在审
申请号: | 202010601822.0 | 申请日: | 2020-06-29 |
公开(公告)号: | CN111665434A | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 周武林;周军军;邓飞龙;尹嘉 | 申请(专利权)人: | 江西联智集成电路有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G06F30/32 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 马莉 |
地址: | 330096 江西省南*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 soc 芯片 内部 时钟 补偿 方法 装置 | ||
1.一种SOC芯片内部时钟的补偿方法,其特征在于,包括:
S10,通过外部低速晶振连接至SOC芯片的通用输入输出管脚,获取SOC芯片内部时钟的补偿值,其中外部低速晶振的频率小于SOC芯片内部时钟的频率;
S20,根据所述补偿值,对工作状态下的SOC芯片内部时钟进行补偿。
2.根据权利要求1所述的SOC芯片内部时钟的补偿方法,其特征在于,所述步骤S10包括:
S101,通过GPIO口获取外部低速晶振的第一次上升边沿,同时获取SOC芯片的内部定时器的计数值,记录所述状态计数值为Count1;
S102,通过GPIO口获取外部低速晶振的第二次上升边沿,同时获取SOC芯片的内部定时器的计数值,记录所述状态计数值状为Count2;
S103,获取SOC芯片的内部定时器在步骤S101与S102中两个状态的计数值的差值ΔCount=Count2-Count1;
S104,循环进行N次所述步骤S101-S103的测试,测试完成后,计算N次测试计数值差值的平均值ΔCountavg;
S105,求取补偿值Fcal并存储,补偿值Fcal的求取根据以下计算公式,
Fcal=Fcpu-Ftarget,
其中,内部频率Fcpu=ΔCountavg*Fref,Fref为外部低速晶振的频率;Ftarget为内部时钟源的设计频率。
3.根据权利要求1所述的SOC芯片内部时钟的补偿方法,其特征在于,
设置补偿值Fcal的计算结果取32位整数数值,如果Fcal值为负数,最高位设置为1;如果Fcal值为正数,最高位设置为0。
4.根据权利要求1所述的SOC芯片内部时钟的补偿方法,其特征在于,
S201,程序开始后,读取存储单元存储指定字段存储的值;
S202,判断所述指定字段的值是否为预定值;
S203,如果所述指定字段的值为预定值,则返回步骤S10,进入SOC芯片补偿流程;
S204,如果所述指定字段的值非预定值,则采用所述值来补偿内部时钟源的频率,公式如下:
Freal=Ftarget+Fcal
其中,Freal为内部时钟源的实际频率;Ftarget为内部时钟源的设计频率;Fcal为补偿值。
5.根据权利要求4所述的SOC芯片内部时钟的补偿方法,其特征在于,所述预定值与补偿值所在的数值区间相区别。
6.根据权利要求5所述的SOC芯片内部时钟的补偿方法,其特征在于,所述预定值大于补偿值所在的数值区间的最大值。
7.根据权利要求2所述的SOC芯片内部时钟的补偿方法,其特征在于,所述步骤S101之前包括:
S100,将标志位字段的值置为第一值。
8.根据权利要求7所述的SOC芯片内部时钟的补偿方法,其特征在于,所述步骤S105之后包括:
S106,将标志位字段的值置为第二值。
9.根据权利要求8所述的SOC芯片内部时钟的补偿方法,其特征在于,所述步骤S20包括:
S201,程序开始后,读取存储单元存储标志位字段存储的值;
S202,判断所述标志位的值是否为第一值;
S203,如果所述标志位字段的值为第一值,则返回步骤S10,进入SOC芯片补偿流程;
S204,如果所述标志位字段的值为第二值,则采用存储单元存储的补偿值来补偿内部时钟源的频率,公式如下:
Freal=Ftarget+Fcal
其中,Freal为内部时钟源的实际频率;Ftarget为内部时钟源的设计频率;Fcal为补偿值。
10.一种采用如权利要求1-9任一项所述的SOC芯片内部时钟的补偿方法的装置,其特征在于,包括:
外部低速晶振,连接至待补偿的所述SOC芯片的通用输入输出管脚,所述外部低速晶振的频率小于SOC芯片内部时钟的频率。
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