[发明专利]随钻电阻率测井视电阻率测量方法、设备及可读存储介质

权利要求书

1.一种随钻电阻率测井视电阻率测量方法，其特征在于，钻铤仪器上设置若干方位测量电极以及若干线圈，若干线圈环形缠绕在钻铤仪器上，每个线圈均能够发射和接收电流，在钻铤仪器上预设聚焦位置，所述预设聚焦位置一侧至少包括第一线圈，另一侧至少包括第二线圈；若干方位测量电极均设置在第一线圈和第二线圈之间；所述测量方法包括以下步骤：

S1：获取第一线圈和第二线圈交替发射时聚焦位置处钻铤的轴向电流；

S2：按照第一缩放倍数调整第一线圈的发射电流，按照第二缩放倍数调整第二线圈的发射电流；使得第一线圈发射时预设聚焦位置处钻铤的轴向电流与第二线圈发射时预设聚焦位置处钻铤的轴向电流的大小相等且方向相反；

S3：将第一线圈发射时测量电极测量的电流缩放第一缩放倍数，得到第一测量电极电流；将第二线圈发射时测量电极测量的电流缩放第二缩放倍数，得到第二测量电极电流；

S4：根据第一测量电极电流、第二测量电极电流以及第二线圈钻铤电压得到视电阻率，其中，第二线圈钻铤电压为第二线圈发射时，在钻铤内产生的轴向电流为1A时，第二线圈处钻铤的电压。

2.根据权利要求1所述的随钻电阻率测井视电阻率测量方法，其特征在于，所述预设聚焦位置与任一线圈的轴向上下边之间留有间隙。

3.根据权利要求1所述的随钻电阻率测井视电阻率测量方法，其特征在于，所述预设聚焦位置设置线圈时，聚焦位置处钻铤的轴向电流通过下式得到：

I_Ri＝N_RiI′_Ri

其中，I_Ri表示聚焦位置处线圈Ri所在位置处钻铤的轴向电流；N_Ri表示聚焦位置处线圈Ri的匝数；I′_Ri表示聚焦位置处线圈Ri的电流。

4.根据权利要求1所述的随钻电阻率测井视电阻率测量方法，其特征在于，所述预设聚焦位置未设置线圈时，定义聚焦位置两侧距离最近的线圈为第三线圈和第四线圈；聚焦位置处钻铤的轴向电流通过下式得到：

其中，I₁₀表示第一线圈发射时，在钻铤的轴向电流为1A时，聚焦位置处钻铤的轴向电流；I₂₀表示第二线圈发射时，在钻铤的轴向电流为1A时，聚焦位置处钻铤的轴向电流；d₃₀表示第三线圈到聚焦位置的中心距离；d₄₀表示第四线圈到聚焦位置的中心距离；I₁₃表示第一线圈发射时，在钻铤的轴向电流为1A时，第三线圈处钻铤的轴向电流；I₁₄表示第一线圈发射时，在钻铤的轴向电流为1A时，第四线圈处钻铤的轴向电流；I₂₃表示第二线圈发射时，在钻铤的轴向电流为1A时，第三线圈处钻铤的轴向电流；I₂₄表示第二线圈发射时，在钻铤的轴向电流为1A时，第四线圈处钻铤的轴向电流。

5.根据权利要求3或4所述的随钻电阻率测井视电阻率测量方法，其特征在于，所述S4的具体方法为：

通过下式得到视电阻率R_aL：

其中，V_T2表示第二线圈钻铤电压，第二线圈钻铤电压为第二线圈发射时，在钻铤内产生的轴向电流为1A时，第二线圈处钻铤的电压；I_M1表示第一线圈发射时，在钻铤的轴向电流为1A时，测量电极的电流；I_M2表示第二线圈发射时，在钻铤的轴向电流为1A时，测量电极的电流；a表示第一线圈的发射电流的缩放倍数；b表示第二线圈的发射电流的缩放倍数；

K_L为线状软聚焦模式下的仪器常数，通过电阻率为Rt的无限大均匀地层模型计算：