[发明专利]随钻电阻率测井视电阻率测量方法、设备及可读存储介质有效

专利信息
申请号: 202010606208.3 申请日: 2020-06-29
公开(公告)号: CN111810116B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 陈思嘉;陈刚;尤嘉祺;唐章宏;许月晨;阳质量;郭怡潇;闫麦奎;孙衍;陈亮;马丽;靳敏刚;付浩 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团有限公司;中国石油集团测井有限公司
主分类号: E21B47/00 分类号: E21B47/00;E21B47/12;G06F30/20;E21B49/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 李红霖
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 电阻率 测井 测量方法 设备 可读 存储 介质
【说明书】:

发明属于随钻电阻率测井技术领域,公开了一种随钻电阻率测井视电阻率测量方法、设备及可读存储介质,所述测量方法包括以下步骤:获取第一线圈和第二线圈交替发射时聚焦位置处钻铤的轴向电流;缩放第一线圈和第二线圈的发射电流;使得第一线圈发射时预设聚焦位置处钻铤的轴向电流与第二线圈发射时预设聚焦位置处钻铤的轴向电流的大小相等且方向相反;对应的缩放将第一线圈发射时测量电极测量的电流以及第二线圈发射时测量电极测量的电流;根据缩放结果以及第二线圈钻铤电压得到视电阻率。通过实现电流在聚焦位置垂直于钻铤表面流出,形成软聚焦效果,有效提升探测地层的视电阻率的准确性,解决随钻测井仪器在高阻区测量结果不准确的问题。

技术领域

本发明属于随钻电阻率测井技术领域,涉及一种随钻电阻率测井视电阻率测量方法、设备及可读存储介质。

背景技术

在石油勘探与开发工程中,电阻率是区分地层信息的一个非常重要的参数。在视电阻率的测量方法中,随钻电阻率测井可边钻边探测地层电阻率,实时反演地层真电阻率。与电缆电阻率测井相比,随钻电阻率测井不需要预先钻井再进行测量,省去了钻井后固井、测量的工序,使得勘探成本大大降低,勘探速度大大提高,因此其应用越来越广泛。

在实际随钻测井的过程中,往往遇到裂缝、坍塌以及薄层等复杂地层时,同时针对岩石孔隙度及渗透率较低的情况,传统的随钻测井仪器在大斜度井/水平井探测过程中,对于复杂的高阻地层,在电阻率测量方面遇到了很大的困难与挑战,使得针对高阻复杂地层的方位电阻率测量成为关键难题。传统的随钻测井仪器在高阻地层时,往往出现测量结果不准确的问题,主要是地层电阻太大,发射的电流全部从泥浆回流到钻铤,不能流经地层,导致探测地层的视电阻率测量不准确。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术中高阻地层的视电阻率测量不准确的缺点,提供一种随钻电阻率测井视电阻率测量方法、设备及可读存储介质。

为达到上述目的,本发明采用以下技术方案予以实现:

本发明第一方面,一种随钻电阻率测井视电阻率测量方法,钻铤仪器上设置若干方位测量电极以及若干线圈,若干线圈环形缠绕在钻铤仪器上,每个线圈均能够发射和接收电流,在钻铤仪器上预设聚焦位置,所述预设聚焦位置一侧至少包括第一线圈,另一侧至少包括第二线圈;若干方位测量电极均设置在第一线圈和第二线圈之间;所述测量方法包括以下步骤:

S1:获取第一线圈和第二线圈交替发射时聚焦位置处钻铤的轴向电流;

S2:按照第一缩放倍数调整第一线圈的发射电流,按照第二缩放倍数调整第二线圈的发射电流;使得第一线圈发射时预设聚焦位置处钻铤的轴向电流与第二线圈发射时预设聚焦位置处钻铤的轴向电流的大小相等且方向相反;

S3:将第一线圈发射时测量电极测量的电流缩放第一缩放倍数,得到第一测量电极电流;将第二线圈发射时测量电极测量的电流缩放第二缩放倍数,得到第二测量电极电流;

S4:根据第一测量电极电流、第二测量电极电流以及第二线圈钻铤电压得到视电阻率,其中,第二线圈钻铤电压为第二线圈发射时,在钻铤内产生的轴向电流为1A时,第二线圈处钻铤的电压。

本发明随钻电阻率测井视电阻率测量方法进一步的改进在于:

所述预设聚焦位置与任一线圈的轴向上下边之间留有间隙。

所述预设聚焦位置设置线圈时,聚焦位置处钻铤的轴向电流通过下式得到:

IRi=NRiI′Ri

其中,IRi表示聚焦位置处线圈Ri所在位置处钻铤的轴向电流;NRi表示聚焦位置处线圈Ri的匝数;I′Ri表示聚焦位置处线圈Ri的电流。

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