[发明专利]SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质

权利要求书

1.SSD正常掉电的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

对SSD进行数据随机写操作；

向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；

等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；

判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；

若不是，则进行脚本报错，停止测试；

若是，则对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；

对SSD上电，并进行初始化；

判断SSD上电初始化是否成功；

若不成功，则进行脚本报错，停止测试；

若成功，则对SSD写入的数据进行数据校验；

判断数据校验是否匹配；

若不匹配，则进行脚本报错，停止测试；

若匹配，则返回执行步骤“对SSD进行数据随机写操作”。

2.根据权利要求1所述的SSD正常掉电的测试方法，其特征在于，所述步骤“对SSD进行数据随机写操作”中，写操作的数据模式为0x5a。

3.根据权利要求1所述的SSD正常掉电的测试方法，其特征在于，所述步骤“等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值”中，N大于等于1。

4.根据权利要求1所述的SSD正常掉电的测试方法，其特征在于，所述步骤“若是，则对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒”中，X为3-10。

5.SSD正常掉电的测试装置，其特征在于，包括：写单元，下发设置单元，等待读取单元，第一判断单元，掉电单元，上电初始化单元，第二判断单元，校验单元，第三判断单元，返回单元，及报错停止单元；

所述写单元，用于对SSD进行数据随机写操作；

所述下发设置单元，用于向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；

所述等待读取单元，用于等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；

所述第一判断单元，用于判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；

所述掉电单元，用于对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；

所述上电初始化单元，用于对SSD上电，并进行初始化；

所述第二判断单元，用于判断SSD上电初始化是否成功；

所述校验单元，用于对SSD写入的数据进行数据校验；

所述第三判断单元，用于判断数据校验是否匹配；

所述返回单元，用于返回执行“对SSD进行数据随机写操作”；

所述报错停止单元，用于进行脚本报错，停止测试。

6.根据权利要求5所述的SSD正常掉电的测试装置，其特征在于，所述写单元中，写操作的数据模式为0x5a。

7.根据权利要求5所述的SSD正常掉电的测试装置，其特征在于，所述等待读取单元中，N大于等于1。

8.根据权利要求5所述的SSD正常掉电的测试装置，其特征在于，所述掉电单元中，X为3-10。

9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4中任一项所述的SSD正常掉电的测试方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如权利要求1-4中任一项所述的SSD正常掉电的测试方法。