[发明专利]SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本发明涉及SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质；其中，方法，包括：对SSD进行数据随机写操作；向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；对SSD上电初始化；判断SSD上电初始化是否成功；对SSD写入的数据进行数据校验；判断数据校验是否匹配。本发明弥补了第三方测试软件无法判断SSD是否在规定的时间内正确完成主机所下发的正常掉电通知命令，及无法对SSD上一个上电周期写入的数据进行校验的缺陷。

技术领域

本发明涉及SSD正常掉电测试技术领域，更具体地说是指SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

在PCIe NVMe SSD(以下简称SSD)产品开发阶段的初期，通常需要对其一些关键特性或功能进行快速评估，以检验相应设计是否存在缺陷。其中，对SSD进行正常掉电测试十分重要。所谓正常掉电是相对异常掉电而言的，即在对SSD掉电前，主机先对SSD发送正常掉电通知命令，然后再对SSD掉电。目前，在对消费级SSD进行正常掉电测试的方法中，通常利用第三方的掉电测试软件(例如，sleeper)和读写测试软件(例如，BurnIn Test)在Windows下，先对SSD读写一段时间，然后再对整机进行休眠或冷启动操作来实现对SSD的正常掉电，这种测试方法的优点是在操作上简单方便。然而，这种方法存在以下两个缺点：

1、上述方法所采用的第三方掉电测试软件，在对SSD下发了正常掉电通知命令后，并不会等待SSD是否已完成该命令(根据NVMe 1.3协议规定，主机在下发了正常掉电通知命令后，至少要等待1s或以上再进行其他操作)，如此一来，也就无法判断SSD是否已完成该命令，而直接对SSD掉电；若出现这种情况，对SSD而言，这在某些时候属于一次异常掉电测试，与本该对SSD进行正常掉电测试的意图相违背，从而有可能漏掉某些在正常掉电测试下才会出现的SSD产品缺陷(例如处理正常掉电通知命令超时)；

2、上述方法所采用的第三方读写测试软件，不会在SSD下一个上电周期里，对上一个上电周期已写入的数据进行校验，这样有可能会漏掉SSD在正常掉电后仍有可能出现数据不一致相关的缺陷。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供SSD正常掉电的测试方法、装置、计算机设备及存储介质。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

SSD正常掉电的测试方法，包括以下步骤：

对SSD进行数据随机写操作；

向SSD主控配置寄存器下发正常掉电通知命令，并设置SSD主控配置寄存器关机通知的值为01b；

等待N秒，读取SSD主控配置寄存器关机状态的值；

判断SSD主控配置寄存器关机状态的值是否为10b；

若不是，则进行脚本报错，停止测试；

若是，则对SSD进行掉电，并保持掉电状态X秒；

对SSD上电，并进行初始化；

判断SSD上电初始化是否成功；

若不成功，则进行脚本报错，停止测试；

若成功，则对SSD写入的数据进行数据校验；

判断数据校验是否匹配；

若不匹配，则进行脚本报错，停止测试；

若匹配，则返回执行步骤“对SSD进行数据随机写操作”。