[发明专利]LVDS端子PIN之间的阻抗测试系统

权利要求书

1.一种LVDS端子PIN之间的阻抗测试系统，其特征在于，包括：电源输入模块、DC-DC降压模块、MCU控制器、模拟开关模块、测试模块及屏幕显示模块，

所述电源输入模块经所述DC-DC降压模块的降压后分别与所述MCU控制器、所述模拟开关模块和所述测试模块电连接，所述MCU控制器分别与所述测试模块和所述模拟开关模块电连接，所述测试模块将测试信号通过所述模拟开关模块传输至所述MCU控制器中，并且通过所述显示模块显示出来。

2.根据权利要求1所述的LVDS端子PIN之间的阻抗测试系统，其特征在于，所述DC-DC降压模块包括第一降压单元、第二降压单元及第三降压单元，所述第一降压单元、所述第二降压单元和所述第三降压单元的输入端分别与所述电源输入模块的输出端电连接，所述第一降压单元的输出端与所述测试模块电连接，所述第二降压单元的输出端与所述模拟开关模块电连接，所述第三降压单元的输出端与所述MCU控制器电连接。

3.根据权利要求1所述的LVDS端子PIN之间的阻抗测试系统，其特征在于，所述模拟开关模块包括一个第一开关电路和五个第二开关电路，五个所述第二开关电路同时与所述MCU控制器的sw1管脚电连接，五个所述第二开关电路的输出端分别与所述测试模块电连接，所述第一开关电路与所述MCU控制器的sw2管脚电连接，所述第一开关电路的输出端与所述测试模块电连接。

4.根据权利要求1所述的LVDS端子PIN之间的阻抗测试系统，其特征在于，所述测试模块包括若干个并联连接的检测单元，各所述检测单元的控制端与所述MCU控制器的sw3管脚电连接，各所述检测单元的检测端与所述模拟开关模块电连接。

5.根据权利要求4所述的LVDS端子PIN之间的阻抗测试系统，其特征在于，所述检测单元包括三极管Q3、电阻R52、发光二极管D17、二极管D18及继电器RY1，所述三极管Q3的发射极与所述DC-DC降压模块电连接，所述三极管Q3的基极经所述电阻R52后接地，所述三极管Q3的集电极分别与所述发光二极管D17、所述二极管D18和所述继电器RY1的控制端电连接，所述发光二极管D17的另一端和所述二极管D18的另一端同时接地，所述继电器RY1的开关与PIN脚电连接。

6.根据权利要求1所述的LVDS端子PIN之间的阻抗测试系统，其特征在于，所述阻抗测试系统还包括防浪涌保护模块及输出模块，所述防浪涌保护模块与所述电源输入模块电连接，所述输出模块的输入端与所述防浪涌保护模块的输出端电连接。

7.根据权利要求6所述的LVDS端子PIN之间的阻抗测试系统，其特征在于，所述防浪涌保护模块包括防冲击保护单元及延时调节单元，所述防冲击保护单元的输入端与所述电源输入模块电连接，所述防冲击保护单元的输出端经所述延时调节单元后与所述输出模块电连接。

8.根据权利要求1所述的LVDS端子PIN之间的阻抗测试系统，其特征在于，所述阻抗测试系统还包括模数转换单元，所述模数转换单元的一端与所述DC-DC降压模块电连接，所述模数转换单元的另一端与所述MCU控制器电连接。

9.根据权利要求1所述的LVDS端子PIN之间的阻抗测试系统，其特征在于，所述阻抗测试系统还包括时钟模块和按键输入模块，所述时钟模块和所述按键输入模块分别与所述MCU控制器电连接。

10.根据权利要求1所述的LVDS端子PIN之间的阻抗测试系统，其特征在于，所述阻抗测试系统还包括报警器，所述报警器与所述MCU控制器电连接。