[发明专利]一种电容误差测量电路、测量方法、芯片以及家用电器

权利要求书

1.一种电容误差测量方法，其特征在于，所述方法包括：

确定待测电容Cx；

提供参考信号至至少一个第一电容，输出校正信号至校正信号线，所述至少一个第一电容包括所述待测电容；

改变第二电容矩阵的总电容值，调节所述校正信号，在调节过程中检测并确认比较器的输出信号反转，记录所述第二电容矩阵的总电容值；

根据记录的所述总电容值确定所述待测电容的误差；

所述改变第二电容矩阵的总电容值，调节所述校正信号，包括：

检测并确认C0、C1…Cx-1与第一参考信号线连通，Cx与第二参考信号线连通，递增调节所述第二电容矩阵的总电容值，在调节过程中，检测并确认比较器的输出信号反转，记录第一总电容值；

检测并确认C0、C1…Cx-1与所述第一参考信号线连通，Cx与所述第二参考信号线连通，递减调节所述第二电容矩阵的总电容值，在调节过程中，检测并确认比较器的输出信号反转，记录第二总电容值；

检测并确认C0、C1…Cx-1与所述第二参考信号线连通，Cx与所述第一参考信号线连通，递增调节所述第二电容矩阵的总电容值，在调节过程中，检测并确认比较器的输出信号反转，记录第三总电容值；

检测并确认C0、C1…Cx-1与所述第二参考信号线连通，Cx与所述第一参考信号线连通，递减调节所述第二电容矩阵的总电容值，在调节过程中，检测并确认比较器的输出信号反转，记录第四总电容值；

所述根据记录的所述总电容值确定所述待测电容的误差，包括：

将所述第一总电容值、所述第二总电容值的差的二分之一作为第一分量，将所述第三总电容值、所述第四总电容值的差的二分之一作为第二分量，计算所述第一分量和所述第二分量的平均值作为所述待测电容的误差。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述改变第二电容矩阵的总电容值，调节所述校正信号，包括：

改变所述第二电容矩阵中多个第二电容中，被配置为接收所述参考信号的第二电容的数量，对所述校正信号进行调节。

3.一种电容误差测量电路，用于实现权利要求1-2所述的电容误差测量方法，其特征在于，所述电容误差测量电路包括：

比较器，所述比较器的第一输入端被配置为输入模拟信号，所述比较器的第二输入端连接校正信号线，被配置为输入校正信号；

第一电容矩阵，所述第一电容矩阵包括多个第一电容，所述多个第一电容的一端连接所述校正信号线，至少一个所述第一电容的另一端被配置为接收参考信号，输入校正信号至所述校正信号线，所述至少一个所述第一电容包括待测电容；

第二电容矩阵，所述第二电容矩阵的一端连接所述校正信号线，所述第二电容矩阵的另一端被配置为接收所述参考信号，所述第二电容矩阵被配置为改变所述第二电容矩阵的总电容值，调节所述校正信号；

控制器，连接所述比较器的输出端和所述第二电容矩阵，被配置为确定所述比较器的输出信号反转时所述第二电容矩阵的总电容值，根据所述总电容值确定所述待测电容的误差。

4.根据权利要求3所述的电容误差测量电路，其特征在于，

所述第二电容矩阵包括多个第二电容，所述多个第二电容的一端连接所述校正信号线，所述第二电容矩阵被配置为根据所述多个第二电容中，被配置为接收所述参考信号的第二电容的数量，确定所述第二电容矩阵的总电容值。

5.根据权利要求4所述的电容误差测量电路，其特征在于，

所述第一电容矩阵中的多个电容按照电容值从第一初始电容值递增分布，所述第二电容矩阵中的多个电容按照电容值从第二初始电容值递增分布，所述第一初始电容值大于所述第二初始电容值。

6.根据权利要求5所述的电容误差测量电路，其特征在于，

所述第二电容矩阵包括5个电容，所述5个电容的电容值分别为8C0、4C0、2C0、C0、0.5C0；其中，C0为第一初始电容值。