[发明专利]一种FPGA多区域动态参数时序驱动设计方法在审
申请号: | 202010631700.6 | 申请日: | 2020-07-03 |
公开(公告)号: | CN111832241A | 公开(公告)日: | 2020-10-27 |
发明(设计)人: | 蒋中华;郭敬霞;王海力 | 申请(专利权)人: | 京微齐力(北京)科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/347 | 分类号: | G06F30/347;G06F30/3312;G06F30/396 |
代理公司: | 北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309 | 代理人: | 陈霁 |
地址: | 100190 北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 fpga 区域 动态 参数 时序 驱动 设计 方法 | ||
1.一种现场可编程门阵列芯片时序设计方法,所述方法包括:
获得现场可编程门阵列芯片电路图;
将现场可编程门阵列芯片电路图,划分为若干局部区域;
测量各局部区域的时序性能,提取各局部区域的时序参数;
至少根据各局部区域的划分范围及其时序参数,建立现场可编程门阵列芯片时序模型;
基于所述现场可编程门阵列芯片时序模型,利用时序驱动引擎进行现场可编程门阵列芯片的布局、布线。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述现场可编程门阵列芯片电路图,包括硬件设计语言描述的现场可编程门阵列芯片设计图或原理图,所述硬件设计语言至少包括Verilog语言、VHDL语言。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述时序参数包括所述局部区域中路径的延迟时间。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,测量各局部区域的时序性能,提取各局部区域的时序参数,包括,基于一种现场可编程门阵列芯片的原型,测量各所述局部区域中的时序性能,并提取时序参数。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,测量各局部区域的时序性能,提取各局部区域的时序参数,包括,基于模拟仿真计算,估计各所述局部区域中的时序性能,并提取时序参数。
6.根据权利要求1所述的方法,其中,基于所述芯片时序模型,利用时序引擎进行现场可编程门阵列芯片的布局、布线,包括,根据现场可编程门阵列各局部区域的时序参数,和用户模块的运行速度需求,确定现场可编程门阵列芯片用户模块的布局区域。
7.根据权利要求1所述的方法,其中,基于所述芯片时序模型,利用时序引擎进行现场可编程门阵列芯片的布局、布线,包括,根据现场可编程门阵列各局部区域的时序参数,和用户模块的功耗需求,确定现场可编程门阵列芯片用户模块的布局区域。
8.根据权利要求1所述的方法,所述现场可编程门阵列芯片时序设计方法基于电子设计自动化工具。
9.根据权利要求8所述的方法,所述电子设计自动化工具包括,Fux i电子设计自动化工具。
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