[发明专利]路径跟踪方法、系统、装置及计算机可读存储介质在审
申请号: | 202010634055.3 | 申请日: | 2020-07-02 |
公开(公告)号: | CN113885487A | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
发明(设计)人: | 刘胜明;甄武斌;徐一琳;司秀芬 | 申请(专利权)人: | 苏州艾吉威机器人有限公司 |
主分类号: | G05D1/02 | 分类号: | G05D1/02 |
代理公司: | 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 | 代理人: | 夏允峰 |
地址: | 215031 江苏省苏州市工*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 路径 跟踪 方法 系统 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.路径跟踪方法,其特征在于,包括:
S1、获取全局路径规划;
S2、在每个控制周期内,获取速度空间;
S3、在速度空间内采样,得到包含速度v和曲率k的运动参数;
S4、在下一个控制周期内,以v为线速度,以1/k为曲率圆半径的圆弧轨迹运动,k的正负性指示角速度的方向;
S5、将上述圆弧轨迹平均分成n段,n为采样点数;
S6、对每一组运动参数模拟运动轨迹,计算对应的轨迹点坐标;
S7、根据所述轨迹点坐标计算轨迹成本,选取成本最低的轨迹,将其运动参数转换为(v,ω)并下发。
2.如权利要求1所述的路径跟踪方法,其特征在于,所述全局路径规划由B样条生成;
给定n+1个控制点P0,P1,...,Pn和一个节点向量T={t0,t1,...,tm},p次B样条曲线由控制点和节点向量T定义:
其中,Pi是控制点,Ni,p(t)表示第i个p次(p+1阶)B样条基函数;ti称为节点,半开区间[ti,ti+1)是第i个节点区间,
则对于均匀B样条,其第i个p次(p+1阶)B样条基函数公式为:
控制点的方法通过型值点反求控制点得到。
3.如权利要求1所述的路径跟踪方法,其特征在于,所述速度空间为当前线速度和角速度的取值范围。
4.如权利要求1所述的路径跟踪方法,其特征在于,所述速度空间采用平均采样的方法进行采样。
5.如权利要求1所述的路径跟踪方法,其特征在于,所述计算轨迹成本包括:
利用评价函数对所有轨迹的成本进行评价,评价标准包括避障能力、与全局路径的贴合程度、运动的平顺程度。
6.路径跟踪系统,其特征在于,包括:
规划模块,用于获取全局路径规划;
获取模块,用于在每个控制周期内,获取速度空间;
采样模块,用于在速度空间内采样,得到包含速度v和曲率k的运动参数;
控制模块,用于在下一个控制周期内,以v为线速度,以1/k为曲率圆半径的圆弧轨迹运动,k的正负性指示角速度的方向;
划分模块,用于将上述圆弧轨迹平均分成n段,n为采样点数;
处理模块,用于对每一组运动参数模拟运动轨迹,计算对应的轨迹点坐标;
选择模块,用于根据所述轨迹点坐标计算轨迹成本,选取成本最低的轨迹,将其运动参数转换为(v,ω)并下发。
7.如权利要求6所述的路径跟踪系统,其特征在于,所述全局路径规划由B样条生成;
给定n+1个控制点P0,P1,...,Pn和一个节点向量T={t0,t1,...,tm},p次B样条曲线由控制点和节点向量T定义:
其中,Pi是控制点,Ni,p(t)表示第i个p次(p+1阶)B样条基函数;ti称为节点,半开区间[ti,ti+1)是第i个节点区间,
则对于均匀B样条,其第i个p次(p+1阶)B样条基函数公式为:
控制点的方法通过型值点反求控制点得到。
8.如权利要求6所述的路径跟踪系统,其特征在于,所述速度空间为当前线速度和角速度的取值范围;
和/或;
所述速度空间采用平均采样的方法进行采样。
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