[发明专利]一种支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置

权利要求书

1.一种支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，其特征在于，包括壳体（1），其中，

所述壳体（1）的一端设置有主板（2），所述主板（2）上连接有1C金手指（3）；

所述主板（2）电性连接连接器（4），所述连接器（4）电性连接支持PCIE传输的储存装置（5），所述1C金手指（3）电性连接所述连接器（4）；

所述主板（2）上设置有可调负载（6），所述可调负载（6）连接1C金手指（3）的12V电源引脚；其中，所述主板（2）上设置有调控器，所述调控器连接所述可调负载（6），所述可调负载（6）包括多个N沟道mos开关和多组负载，所述调控器连接所述N沟道mos开关的栅极，所述N沟道mos开关的漏极均连接于12V电源，所述N沟道mos开关的源极连接所述负载，所述负载接地，所述负载包括四个并联的电阻。

2.根据权利要求1所述的支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，其特征在于，所述壳体（1）的厚度不超过5.9mm，所述壳体（1）的宽度不超过31.5mm，对准所述储存装置（5）的所述壳体（1）顶面和底面镂空，所述壳体（1）上设置有固定柱（11），所述固定柱（11）设置于所述储存装置（5）远离所述连接器的一端，所述固定柱（11）抵触所述储存装置（5），所述主板（2）的底侧到所述壳体（1）的距离为2.1mm。

3.根据权利要求2所述的支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，其特征在于，所述壳体（1）底面的内部设置滑轨（13），所述滑轨（13）上滑动连接设置所述固定柱（11），所述固定柱（11）上贯穿螺接有紧固螺栓（12），所述紧固螺栓（12）的底部抵触所述滑轨（13），所述滑轨（13）的一端距离所述连接器（4）距离为30mm，所述滑轨的另一端距离所述连接器（4）的距离为90mm。

4.根据权利要求1所述的支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，其特征在于，所述储存装置（5）插头支持PCIE传输带宽为×4的传输；所述连接器（4）上水平设置有卡槽，所述卡槽支持PCIE带宽×4的PCIE传输，所述卡槽的高度为1.8mm，长度22mm，所述储存装置（5）的插头插接于所述卡槽、且与所述卡槽电性连接，所述卡槽连接转接模块，所述转接模块通过所述主板（2）电性连接所述1C金手指（3）。

5.根据权利要求4所述的支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，其特征在于，所述转接模块中设置有电源模块、与门与逻辑器，所述1C金手指（3）的PWRDIS与12V引脚通过电源开关连接到所述电源模块，所述电源模块连接所述储存装置（5）的供电引脚；所述1C金手指（3）的LED/ACTIVITY与所述储存装置（5）的LED_1#引脚通过与门连接所述主板（2）上的LED；所述1C金手指的3.3V引脚通过逻辑器连接主板（2）；

所述1C金手指（3）PCIE×4、100MHz Clock、SMBus、PRSNT0#、PERST0#引脚分别与储存装置的对应引脚连接。

6.根据权利要求1所述的支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，其特征在于，所述负载包括四个并联的电阻，每个电阻的阻值为144Ω，四个所述电阻的一端连接于所述N沟道mos开关的源极，四个所述电阻的另一端接地。