[发明专利]一种支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置

说明书

本发明公开一种支持EDSFF‑1C标准的接口的测试装置，属于检测装置领域，用于替换EDSFF‑1C标准SSD来对EDSFF‑1C接口检测，具体包括壳体，所述壳体的一端设置有主板，所述主板上连接有1C金手指；所述主板电性连接连接器，所述连接器电性连接支持PCIE传输的储存装置，所述1C金手指电性连接所述连接器；所述主板上设置有可调负载，所述可调负载连接1C金手指的12V电源引脚。通过所述连接器实现将3.3V的价格低廉的储存装置与所述1C金手指电性连接，在1C金手指的12V引脚连接可调负载。调节可调负载的功耗，以配合功耗较低的所述储存装置，实现对功耗相对较高的EDSFF‑1C标准的SSD进行模拟。本发明公开一种支持EDSFF‑1C标准的接口的测试装置能更好地检测EDSFF‑1C接口且成本更低。

技术领域

本发明涉及检测设备领域，尤其涉及一种支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置。

背景技术

目前市面上搭载EDSFF规格储存装置的服务器越来越多，服务器连接EDSFF规格储存装置的接口需要经过严格的测试，保证服务器的质量。由于EDSFF规格的储存装置价格普遍较高，因此不可能通过直接在服务器接口插接EDSFF储存装置来检测服务器接口。

现有技术中，一般的检测方案仅仅针对接口的信号来进行质量验证，一般的，在一个治具上上设置很多能够连接到服务器接口的示波器接头，服务器系统芯片发送信号到接口，通过示波器显示记录服务器的接口信号，设置不同的验证环境来进行测试，然后将信号记录与接口协会的规范进行对比，确认是否能够满足规范的要求；然而对于产品来说，仅仅测量接口信号是否满足规范是远远不够的，还需要对电源供给以及生热情况进行验证，单单通过示波器验证信号的方式无法完成上述验证，无法完全确保产品的质量。

发明内容

本发明提供支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，旨在解决测量接口信号是否满足规范的检测方式检测指标单一，无法完全确保产品的质量的问题。

为实现上述目的，本发明提供一种支持EDSFF-1C标准的接口的测试装置，包括壳体，其中，

所述壳体的一端设置有主板，所述主板上连接有1C金手指；

所述主板电性连接连接器，所述连接器电性连接支持PCIE传输的储存装置，所述1C金手指电性连接所述连接器；

所述主板上设置有可调负载，所述可调负载连接1C金手指的12V电源引脚。

优选地，所述壳体的厚度不超过5.9mm，所述壳体的宽度不超过31.5mm，对准所述储存装置的所述壳体顶面和底面镂空，所述壳体上设置有固定柱，所述固定柱设置于所述储存装置远离所述连接器的一端，所述固定柱抵触所述储存装置，所述主板的底侧到所述壳体的距离为2.1mm。

优选地，所述壳体底面的内部设置滑轨，所述滑轨上滑动连接设置所述固定柱，所述固定柱上贯穿螺接有紧固螺栓，所述紧固螺栓的底部抵触所述滑轨，所述滑轨的一端距离所述连接器距离为30mm，所述滑轨的另一端距离所述连接器的距离为90mm。

优选地，所述储存装置的插头支持PCIE传输带宽为×4的传输；所述连接器上水平设置有卡槽，所述卡槽支持PCIE带宽×4的PCIE传输，所述卡槽的高度为1.8mm，长度22mm，所述储存装置的插头插接于所述卡槽、且与所述卡槽电性连接，所述卡槽连接转接模块，所述转接模块通过所述主板电性连接所述1C金手指。

优选地，所述转接模块中设置有电源模块、与门与逻辑器，所述1C金手指的PWRDIS与12V引脚通过电源开关连接到所述电源模块，所述电源模块连接所述储存装置的供电引脚；所述1C金手指的LED/ACTIVITY与所述储存装置的LED_1#引脚通过与门连接所述主板上的LED；所述1C金手指的3.3V引脚通过逻辑器连接主板；

所述1C金手指PCIE×4、100MHz Clock、SMBus、PRSNT0#、PERST0#引脚分别与储存装置的对应引脚连接。