[发明专利]一种电器设备检测方法、装置、检测设备及存储介质

权利要求书

1.一种电器设备检测方法，其特征在于，包括：

获取电器设备的每个待检测位置的运行状态参数；

将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对；

若运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则确定对应的待检测位置运行状态异常；

所述将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对，包括：

获取每个待检测位置的预设运行状态参数曲线，其中，每个待检测位置的预设运行状态参数曲线均有多条，每个待检测位置的多条预设运行状态参数曲线是分别根据每种外界温度状态下的运行状态参数数据建立的；

选取每个待检测位置当前外界温度状态下的预设运行状态参数曲线；

将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线进行比对。

2.根据权利要求1所述的电器设备检测方法，其特征在于，所述运行状态参数包括电流、电压、功率中的一种。

3.根据权利要求1所述的电器设备检测方法，其特征在于，还包括：

若预设周期内待检测位置运行状态异常的异常次数超过预设次数，则确定该待检测位置为故障位置。

4.根据权利要求1所述的电器设备检测方法，其特征在于，所述将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线进行比对，包括：

将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线中相同时间的预设运行状态参数进行比对；

若待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线中相同时间的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则运行状态参数异常。

5.根据权利要求1所述的电器设备检测方法，其特征在于，所述电器设备检测方法还包括：

针对电器设备的每个待检测位置，统计每种外界温度状态下的运行状态参数数据；

对每种外界温度状态下的所述运行状态参数数据进行筛选处理；

对每种外界温度状态下的筛选处理后的运行状态参数数据取平均值；

以每种外界温度状态下所述平均值分别绘制对应预设运行状态参数曲线。

6.根据权利要求5所述的电器设备检测方法，其特征在于，所述对每种外界温度状态下的所述运行状态参数数据进行筛选处理，包括：

对每种外界温度状态下的所述运行状态参数数据进行无效数据去除处理；

对每种外界温度状态下无效数据去除处理后的运行状态参数数据进行最高预设分位数数据去除处理和最低预设分位数数据去除处理。

7.根据权利要求1所述的电器设备检测方法，其特征在于，所述电器设备检测方法还包括：

针对电器设备的每个待检测位置，统计每种外界温度状态下的运行状态参数数据；

采用最小二乘法对每种外界温度状态下的运行状态参数数据进行线性拟合，得到的回归曲线为预设运行状态参数曲线。

8.一种电器设备检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取电器设备的每个待检测位置的运行状态参数；

比对模块，用于将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对；所述将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对，包括：获取每个待检测位置的预设运行状态参数曲线，其中，每个待检测位置的预设运行状态参数曲线均有多条，每个待检测位置的多条预设运行状态参数曲线是分别根据每种外界温度状态下的运行状态参数数据建立的；选取每个待检测位置当前外界温度状态下的预设运行状态参数曲线；将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线进行比对；

确定模块，用于若运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则确定对应的待检测位置运行状态异常。

9.一种检测设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的电器设备检测方法。