[发明专利]一种电器设备检测方法、装置、检测设备及存储介质

说明书

本发明提供一种电器设备检测方法、装置、检测设备及存储介质，所述电器设备检测方法，包括：获取电器设备的每个待检测位置的运行状态参数；将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对；若运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则确定对应的待检测位置运行状态异常。本发明能够通过运行状态参数与对应的预设运行状态参数的比对结果确定运行状态参数的正常或异常，确定根据运行状态参数的正常或异常确定运行状态参数正常或异常的对应待检测位置，通过本发明能够实现电器设备状态异常自动检测。

技术领域

本发明涉及电器设备检测技术领域，具体是一种电器设备检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

在使用电器设备的时候，有时会出现这种情况：在某一时刻不能用，但是一秒钟之后又恢复正常，这种情况下往往用户无法确定电器设备是否存在故障，如果放任电器设备的故障，势必会造成问题的积累与叠加，电器设备在存在故障的情况下工作，不仅会影响电器设备的可靠运行，还可能引发危险，现有技术中没有有效的电器设备状态异常的自动检测方案，更无法定位电器设备的异常位置。因此，本领域亟需解决电器设备状态异常的自动检测的问题。

发明内容

本发明提供一种电器设备检测方法、装置、检测设备及存储介质，以解决电器设备状态异常自动检测的问题。

第一方面，本发明提供一种电器设备检测方法，包括：

获取电器设备的每个待检测位置的运行状态参数；

将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对；

若运行状态参数与对应的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则确定对应的待检测位置运行状态异常。

进一步地，所述运行状态参数包括电流、电压、功率中的一种。

进一步地，所述电器设备检测方法还包括：

若预设周期内待检测位置运行状态异常的异常次数超过预设次数，则确定该待检测位置为故障位置。

进一步地，所述将每个待检测位置的运行状态参数与对应的预设运行状态参数进行比对，包括：

获取每个待检测位置的预设运行状态参数曲线，其中，每个待检测位置的预设运行状态参数曲线均有多条，每个待检测位置的多条预设运行状态参数曲线是分别根据每种外界温度状态下的运行状态参数数据建立的；

选取每个待检测位置当前外界温度状态下的预设运行状态参数曲线；

将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线进行比对。

进一步地，所述将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线进行比对，包括：

将每个待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线中相同时间的预设运行状态参数进行比对；

若待检测位置的运行状态参数与选取的预设运行状态参数曲线中相同时间的预设运行状态参数之间的差值超过预设差值，则运行状态参数异常。

进一步地，所述电器设备检测方法还包括：

针对电器设备的每个待检测位置，统计每种外界温度状态下的运行状态参数数据；

对每种外界温度状态下的所述运行状态参数数据进行筛选处理；

对每种外界温度状态下的筛选处理后的运行状态参数数据取平均值；

以每种外界温度状态下所述平均值分别绘制对应预设运行状态参数曲线。

进一步地，所述对每种外界温度状态下的所述运行状态参数数据进行筛选处理，包括：