[发明专利]一种面板缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质

权利要求书

1.一种面板缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待检测面板的面板图像对应的缺陷候选区域集，其中，所述缺陷候选区域集中的各缺陷候选区域均包括各自对应的置信度；

确定所述缺陷候选区域集中各缺陷候选区域各自对应的位置参数，其中，所述位置参数用于反映该缺陷候选区域在所述面板图像中的所处区域；

基于各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集；

基于所述目标缺陷候选区域集，确定所述待检测面板对应的缺陷类别。

2.根据权利要求1所述的面板缺陷检测方法，其特征在于，所述获取待检测面板的面板图像对应的缺陷候选区域集包括：

将所述面板图像输入预设的缺陷检测模型，通过所述缺陷检测模型输出所述面板图像对应的各缺陷候选区域，其中，各缺陷候选区域均包括各自对应的置信度；

根据得到的所有缺陷候选区域，确定所述面板图像对应的缺陷候选区域集。

3.根据权利要求1所述的面板缺陷检测方法，其特征在于，所述基于各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集具体包括：

根据各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，确定各缺陷候选区域各自对应的置信分数；

根据各缺陷候选区域对应的置信分数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集。

4.根据权利要求3所述的面板缺陷检测方法，其特征在于，所述位置参数包括位置信息以及尺寸信息；所述根据各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，确定各缺陷候选区域各自对应的置信分数具体包括：

对于每个缺陷候选区域，对该缺陷候选区域对应的置信度、位置信息及尺寸信息进行加权处理，以得到该缺陷候选区域对应的置信分数。

5.根据权利要求4所述的面板缺陷检测方法，其特征在于，所述位置信息配置有权重参数，所述位置信息配置的权重参数的获取过程具体包括：

对于该缺陷候选区域中的每条区域边，确定该区域边与目标边之间的距离，其中，该目标边为所述面板图像中与该区域边平行的图像边，并且所述目标边与该区域边位于缺陷候选区域的区域中心的同一侧；

根据确定得到的所有距离，确定所述位置信息对应的权重系数。

6.根据权利要求3所述的面板缺陷检测方法，其特征在于，所述根据各缺陷候选区域对应的置信分数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集具体包括：

根据所述缺陷候选区域集中的各缺陷候选区域对应的置信分数，确定所述缺陷候选区域集对应的目标候选区域以及参考候选区域集，其中，所述参考候选区域集包括所述缺陷候选区域集去除该目标候选区域外的其余缺陷候选区域，所述目标候选区域为所述缺陷候选集中最高置信分数对应的一缺陷候选区域；

对于参考候选区域集中的每个参考候选区域，确定该目标候选区域与该参考候选区域之间的第一面积参数和第二面积参数；

根据各参考候选区域对应的第一面积参数和第二面积参数，对该参考候选区域集进行过滤，以得到过滤后的参考候选区域集；

将过滤后的参考候选区域集作为缺陷候选区域集，并继续执行根据所述缺陷候选区域集中的各缺陷候选区域对应的置信分数，确定所述缺陷候选区域集对应的目标候选区域以及参考候选区域集的步骤；直至过滤后的参考候选区域集未包含参考候选区域；

根据确定得到的所有目标候选区域，确定所述面板图像对应的目标缺陷候选区域集。

7.根据权利要求6所述的面板缺陷检测方法，其特征在于，所述对于参考候选区域集中的每个参考候选区域，确定所述目标候选区域与该参考候选区域之间的第一面积参数和第二面积参数具体包括：

对于参考候选区域集中的每个参考候选区域，确定该目标候选区域与该参考候选区域的相交区域以及合并区域；

根据所述相交区域以及所述合并区域，确定该参考候选区域对应的第一面积参数；

根据所述相交区域以及该目标候选区域对应的图像区域，确定该参考候选区域对应的第二面积参数。