[发明专利]一种面板缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种面板缺陷检测方法、终端设备及存储介质，所述方法包括获取待检测面板的面板图像对应的缺陷候选区域集；对于每个缺陷候选区域，确定该缺陷候选区域对应的位置参数；基于各缺陷候选区域对应的置信度及位置参数，对缺陷候选区域集进行过滤得到目标缺陷候选区域集；基于目标缺陷候选区域集，确定所述待检测面板对应的缺陷类别。本申请实施例中在获取到缺陷候选区域集后，基于置信度和位置参数对缺陷候选区域集中的缺陷候选区域进行过滤，这样对缺陷候选区域进行过滤时，在考虑缺陷候选区域的置信度的基础上，将缺陷候选区域的位置参数作为筛选的过滤因素，提高了候选框筛选的准确性，从而提高了面板缺陷检测的准确性。

技术领域

本申请涉及面板检测技术领域，尤其涉及的是一种面板缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质。

背景技术

产品质量是制造业最为重视的生产指标之一，为了保证产品质量，在产品生产过程中对产品进行缺陷检测成为不可或缺的工序，例如，显示面板(例如，薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD，Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)等)为例，每条产线都需要对显示面板进行缺陷检测。然而，目前在对显示面板进行缺陷检测的过程中，普遍存在缺陷检测准确率低的问题。

发明内容

本申请要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足，提供一种面板缺陷检测方法、装置、智能终端及存储介质，旨在解决现有技术在进行面板缺陷的检测过程中存在缺陷检测准确率低的问题。

为了解决上述问题，本申请实施例第一方面提供了一种面板缺陷检测方法，其中，所述方法包括：

获取待检测面板的面板图像对应的缺陷候选区域集，其中，所述缺陷候选区域集中的各缺陷候选区域均包括各自对应的置信度；

确定所述缺陷候选区域集中各缺陷候选区域各自对应的位置参数，其中，所述位置参数用于反映该缺陷候选区域在所述面板图像中的所处区域；

基于各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集；

基于所述目标缺陷候选区域集，确定所述待检测面板对应的缺陷类别。

所述的面板缺陷检测方法，其中，所述获取待检测面板的面板图像对应的缺陷候选区域集包括：

将所述面板图像输入预设的缺陷检测模型，通过所述缺陷检测模型输出所述面板图像对应的各缺陷候选区域，其中，各缺陷候选区域均包括各自对应的置信度；

根据得到的所有缺陷候选区域，确定所述面板图像对应的缺陷候选区域集。

所述的面板缺陷检测方法，其中，所述基于各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集具体包括：

根据各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，确定各缺陷候选区域各自对应的置信分数；

根据各缺陷候选区域对应的置信分数，对所述缺陷候选区域集进行过滤，以得到目标缺陷候选区域集。

所述的面板缺陷检测方法，其中，所述位置参数包括位置信息以及尺寸信息；所述根据各缺陷候选区域各自对应的置信度及位置参数，确定各缺陷候选区域各自对应的置信分数具体包括：

对于每个缺陷候选区域，对该缺陷候选区域对应的置信度、位置信息及尺寸信息进行加权处理，以得到该缺陷候选区域对应的置信分数。

所述的面板缺陷检测方法，其中，所述位置信息配置有权重参数，所述位置信息配置的权重参数的获取过程具体包括：

对于该缺陷候选区域中的每条区域边，确定该区域边与目标边之间的距离，其中，该目标边为所述面板图像中与该区域边平行的图像边，并且所述目标边与该区域边位于缺陷候选区域的区域中心的同一侧；