[发明专利]一种轻烧镁、镁石中MgO、SiO2

权利要求书

1.一种轻烧镁、镁石中MgO、SiO2含量的X射线荧光光谱分析法，其特征在于：具体包括以下步骤：

（1）.建立标准曲线以及制备标准试样，其中标准试样具体制备步骤为：称取基准氧化镁和基准二氧化硅，两者与混合熔剂共计5g进行混合，再在其表面完全覆盖4g混合熔剂，加入脱模剂1mL，于熔样炉进行熔融，熔制成标准样片，于X荧光光谱仪分析，其中混合熔剂为偏硼酸锂：四硼酸锂=2:1混合制成；

（2）.确定分析试样粒度：粒度小于0.090mm；

（3）.将分析试样置于105℃的烘箱中干燥1h；

（4）.称取1g分析试样于1025℃±25℃烧至恒重的瓷方舟中，记分析试样和瓷方舟总重量为m₁，将分析试样和瓷方舟置于1025℃±25℃的马弗炉灼烧1小时，取出冷却，记灼烧后分析试样和瓷方舟总重量为m₂，计算烧失量Δm，具体为Δm= m₁- m₂；

（5）.将灼烧后分析试样转移至盛有4+Δm克的混合熔剂的铂金坩埚中，搅拌均匀，在表面覆盖4克混合熔剂,滴加脱模剂1mL；

（6）.然后将分析试样放入Claisse M4型熔样炉中进行熔融，制得分析试样玻璃熔片，并且将分析试样玻璃熔片放入赛默飞 9900型荧光光谱仪进行分析，并选择已建立的标准曲线进行对比分析。

2.如权利要求1所述的轻烧镁、镁石中MgO、SiO2含量的X射线荧光光谱分析法，其特征在于：所述熔融包括预熔阶段和熔融阶段，其中预熔阶段温度为800℃,时间为7分钟，旋转；熔融阶段温度控制在1050℃,时间10分钟，旋转，然后自然冷却，5分钟；风动冷却，3分钟。

3.如权利要求1所述的轻烧镁、镁石中MgO、SiO2含量的X射线荧光光谱分析法，其特征在于：所述脱模剂为400g/L的溴化锂。

4.如权利要求1所述的轻烧镁、镁石中MgO、SiO2含量的X射线荧光光谱分析法，其特征在于：所述标准试样中的基准氧化镁和基准二氧化硅均经过在1000℃马弗炉灼烧4小时，于干燥器冷却处理。