[发明专利]中子探测器性能检测方法、装置、系统和计算机设备

权利要求书

1.一种中子探测器性能检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待测中子探测器采集到的多个原始脉冲；

基于所述多个原始脉冲的参数信息，获得所述多个原始脉冲的脉冲特征信息；

将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配；其中，所述性能判断特征集中包含性能判断特征与中子探测器性能信息之间的多组映射关系，所述映射关系根据多个中子探测器对应的多个脉冲特征信息、以及所述多个中子探测器各自对应的已知性能信息构建；所述多个脉冲特征信息根据各自对应的中子探测器采集到的原始脉冲获得；

获得与所述脉冲特征信息匹配的性能判断特征，将所述性能判断特征对应的中子探测器性能信息作为所述待测中子探测器的性能检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获得所述多个原始脉冲的脉冲特征信息，包括：

获取所述多个原始脉冲中每个原始脉冲的脉冲面积和脉冲幅值；

将多组所述脉冲面积和脉冲幅值作为所述待测中子探测器的脉冲特征信息。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将多组所述脉冲面积和脉冲幅值作为所述待测中子探测器的脉冲特征信息，包括：

将多组所述脉冲面积和脉冲幅值作为二维坐标系中的多个坐标点，生成二维坐标系中的坐标点分布图；

根据所述坐标点分布图，获得所述脉冲特征信息。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配，包括：

获取所述脉冲特征信息与所述性能判断特征集中的各个性能判断特征的坐标点分布相似度；

根据所述坐标点分布相似度的大小，确定与所述中子探测器匹配的性能判断特征。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述获得所述脉冲特征信息匹配到的性能判断特征，将所述性能判断特征对应的性能特征值作为所述待测中子探测器的性能检测结果，包括：

将所述坐标点分布相似度最大的性能判断特征作为所述中子探测器匹配到的目标性能判断特征；

获取所述目标性能判断特征对应的目标已知性能信息；

将所述目标已知性能信息作为所述待测中子探测器的所述性能检测结果。

6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配之前，所述方法包括：

获取所述多个中子探测器中每个中子探测器对应的已知性能信息和脉冲特征信息；

针对各已知性能信息，将所述已知性能信息一致的中子探测器对应的所述脉冲特征信息进行重叠处理，根据重叠程度满足预设阈值的脉冲特征信息，确定所述各已知性能信息对应的性能判断特征；

根据所述各已知性能信息对应的所述性能判断特征，构建所述性能判断特征集。

7.一种中子探测器性能检测系统，其特征在于，所述系统包括：信号隔离器，放大器和数据采集系统；所述放大器连接所述信号隔离器和所述数据采集系统；其中，

所述信号隔离器，用于隔离电源电压对待测中子探测器的原始脉冲产生的干扰；

所述放大器，用于放大所述待测中子探测器的所述原始脉冲；

所述数据采集系统，用于获取所述经所述放大器放大后的所述原始脉冲，并根据上述权利要求1至6任一项所述的方法进行中子探测器的性能检测。