[发明专利]中子探测器性能检测方法、装置、系统和计算机设备有效
申请号: | 202010667255.9 | 申请日: | 2020-07-13 |
公开(公告)号: | CN111929720B | 公开(公告)日: | 2023-04-25 |
发明(设计)人: | 黄显润;常宝富;吴长雷;高巍;陈邦续;刘桓宇;陈臻;刘尧 | 申请(专利权)人: | 中广核核电运营有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司 |
主分类号: | G01T3/00 | 分类号: | G01T3/00 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 张亚菲 |
地址: | 518048 广东省深圳市福田*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 中子 探测器 性能 检测 方法 装置 系统 计算机 设备 | ||
本申请涉及中子探测领域,提供了一种中子探测器性能检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。本申请可提高中子探测器性能检测的准确性。该方法包括:通过获取待测中子探测器采集的多个原始脉冲,获取多个原始脉冲的脉冲特征信息,将脉冲特征信息与包含性能判断特征与中子探测器已知性能信息之间的多组映射关系的性能判断特征集进行匹配,获得匹配到的性能判断特征对应的已知性能信息,将该已知性能信息作为待测中子探测器的性能检测结果。
技术领域
本申请涉及中子探测领域,特别是涉及一种中子探测器性能检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。
背景技术
目前核电站的仪表测试系统通常采用中子探测器进行堆外中子通量测量。随着使用时间增长,中子探测器会出现老化情况,实际使用中,需要对中子探测器进行性能检测分析。
目前中子探测器性能检测技术中,常用的手段是绘制中子探测器甄别阈曲线和高压坪曲线,采用经过放大甄别后的标准脉冲个数与电压和甄别阈的关系曲线来分析探测器性能,标准脉冲的脉冲幅值和面积都是提前设计好的。然而,随着中子探测器的使用,其中填充气体成分会因为气体杂质、漏气、消耗等原因产生变化,进而会影响脉冲的幅值和面积,使得现有技术对中子探测器的性能检测不准确。
发明内容
基于此,有必要针对目前技术中存在的中子探测器性能检测不准确的技术问题,提供一种中子探测器性能检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。
一种中子探测器性能检测方法,所述方法包括:
获取待测中子探测器采集到的多个原始脉冲;
获得所述多个原始脉冲的脉冲特征信息;
将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配;其中,所述性能判断特征集中包含性能判断特征与中子探测器性能信息之间的多组映射关系,所述映射关系根据多个中子探测器对应的多个脉冲特征信息、以及所述多个中子探测器各自对应的已知性能信息构建;所述多个脉冲特征信息根据各自对应的中子探测器采集到的原始脉冲获得;
获得与所述脉冲特征信息匹配的性能判断特征,将所述性能判断特征对应的中子探测器性能信息作为所述待测中子探测器的性能检测结果。
在其中一个实施例中,所述获得所述多个原始脉冲的脉冲特征信息,包括:
获取所述多个原始脉冲中每个原始脉冲的脉冲面积和脉冲幅值;将多组所述脉冲面积和脉冲幅值作为所述待测中子探测器的脉冲特征信息。
在其中一个实施例中,所述将多组所述脉冲面积和脉冲幅值作为所述待测中子探测器的脉冲特征信息,包括:
将多组所述脉冲面积和脉冲幅值作为二维坐标系中的多个坐标点,生成二维坐标系中的坐标点分布图;根据所述坐标点分布图,获得所述脉冲特征信息。
在其中一个实施例中,所述将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配,包括:
获取所述脉冲特征信息与所述性能判断特征集中的各个性能判断特征的坐标点分布相似度;根据所述坐标点分布相似度的大小,确定与所述中子探测器匹配的性能判断特征。
在其中一个实施例中,所述获得所述脉冲特征信息匹配到的性能判断特征,将所述性能判断特征对应的性能特征值作为所述待测中子探测器的性能检测结果,包括:
将所述坐标点分布相似度最大的性能判断特征作为所述中子探测器匹配到的目标性能判断特征;获取所述目标性能判断特征对应的目标已知性能信息;将所述目标已知性能信息作为所述待测中子探测器的所述性能检测结果。
在其中一个实施例中,所述将所述脉冲特征信息与预设的性能判断特征集进行匹配之前,所述方法包括:
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