[发明专利]器件导通测试方法、装置、存储介质及终端

权利要求书

1.一种器件导通测试方法，其特征在于，所述方法包括：

接收针对器件输入的老化指令，控制主板向所述器件发送第一握手信号；

获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号，根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性，包括：

若所述第一应答信号指示所述器件导通正常，则对所述器件进行老化处理，并在老化处理结束后，控制主板向所述器件发送第二握手信号；

接收所述器件返回的第二应答信号，根据所述第二应答信号确定所述器件的导通性。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二应答信号确定所述器件的导通性，包括：

若所述第二应答信号指示所述器件导通异常，则确定所述导通性为异常导通，禁止所述器件进入功能测试阶段；

若所述第二应答信号指示所述器件导通正常，则确定所述导通性为正常导通，允许所述器件进入功能测试阶段。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述禁止所述器件进入功能测试阶段之后，还包括：

锁定所述器件，并输出器件次品提示信息。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性，包括：

若所述第一应答信号指示所述器件导通异常，则确定所述导通性为异常导通，停止对所述器件进行老化处理，并输出器件次品提示信息。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述输出器件次品提示信息，包括：

获取所述器件所属设备的设备信息，输出包括所述设备信息的器件次品提示信息。

7.一种器件导通测试装置，其特征在于，所述装置包括：

第一握手信号发送模块，用于接收针对器件输入的老化指令，控制主板向所述器件发送第一握手信号；

导通性确定模块，用于获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号，根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述导通性确定模块包括：

第一应答信号获取单元，用于获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号；

第二握手信号发送单元，用于若所述第一应答信号指示所述器件导通正常，则对所述器件进行老化处理，并在老化处理结束后，控制主板向所述器件发送第二握手信号；

导通性确定单元，用于接收所述器件返回的第二应答信号，根据所述第二应答信号确定所述器件的导通性。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现所述权利要求1-6中任一项所述方法的步骤。

10.一种终端，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现所述权利要求1-6中任一项所述方法的步骤。