[发明专利]器件导通测试方法、装置、存储介质及终端

说明书

本申请实施例公开了一种器件导通测试方法、装置、存储介质及终端，其中，所述方法包括：接收针对器件输入的老化指令，控制主板向所述器件发送第一握手信号；获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号，根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性。本实施例在老化处理阶段增加了器件预测试，通过向与主板连接的各个器件发送握手信号来测试器件的导通性，在老化处理前便能发现导通性异常的次品器件。所述方法无需等待老化处理结束后才能在功能测试阶段发现次品器件，一方面解决了次品器件发现时间滞后的问题，提高了器件检测效率，另一方面避免了对导通性异常的次品器件的无效测试，节省了测试成本。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，尤其涉及一种器件导通测试方法、装置、存储介质及终端。

背景技术

智能终端从生产到出库一般包括四个阶段：终端装配、老化处理、功能测试以及包装出库。为提升终端品质，终端出库前都要进行老化处理以及功能测试。老化处理即等效模仿产品的使用状态；老化处理后，功能测试可以检查出产品器件的连接情况。当某项功能无法实现时，表明器件连接出现问题，终端将被扣留并由测试人员进行拆机检查。

终端的老化过程一般在8小时左右，若产线出现批量装配不良问题，则只能在8小时之后的功能测试阶段才能被发现，问题发现滞后，在此过程中已经生产了大量次品，导致成本增加。

发明内容

本申请实施例提供了一种器件导通测试方法、装置、存储介质及终端，所述方法可以解决上述仅能在功能测试阶段发现器件连接问题，问题发现滞后，在此过程中已经生产了大量次品，导致成本增加的问题。所述技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供了一种器件导通测试方法，所述方法包括：

接收针对器件输入的老化指令，控制主板向所述器件发送第一握手信号；

获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号，根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性。

第二方面，本申请实施例提供了一种器件导通测试装置，所述装置包括：

第一握手信号发送模块，用于接收针对器件输入的老化指令，控制主板向所述器件发送第一握手信号；

导通性确定模块，用于获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号，根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性。

第三方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述任一项方法的步骤。

第四方面，本申请实施例提供了一种终端，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述任一项方法的步骤。

本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：

本申请实施例提供的器件导通测试方法，接收针对器件输入的老化指令，控制主板向所述器件发送第一握手信号；获取所述器件向所述主板返回的第一应答信号，根据所述第一应答信号确定所述器件的导通性。本实施例在老化处理阶段增加了器件预测试，通过向与主板连接的各个器件发送握手信号来测试器件的导通性，在老化处理前便能发现导通性异常的次品器件。所述方法无需等待老化处理结束后才能在功能测试阶段发现次品器件，一方面解决了次品器件发现时间滞后的问题，可以快速发现次品以节省成本，并提高了器件检测效率，另一方面避免了对导通性异常的次品器件的无效测试，节省了测试成本。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请实施例提供的一种器件导通测试方法的流程示意图；