[发明专利]毫米波天线阻抗一致性检测方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种毫米波天线阻抗一致性检测方法，其特征在于，所述方法包括：

将待测天线按照天线类型进行分类；

将同类型天线放置在相同的阻隔材料下；

根据所述同类型天线在相同阻隔材料下的特性判断所述同类型天线阻抗的一致性。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述将待测天线按照天线类型进行分类之前，包括：

将不同类型的待测天线按照天线类型分别进行编号。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述同类型天线在相同阻隔材料下的特性判断所述同类型天线阻抗的一致性，包括：

当所述同类型天线在相同阻隔材料下的阻抗曲线均相同时，则所述同类型天线阻抗满足一致性；

当所述同类型天线在相同阻隔材料下的阻抗曲线有不相同时，则所述同类型天线阻抗不满足一致性。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

当所述同类型天线在相同阻隔材料下的阻抗曲线有不相同时，进一步显示出所述阻抗曲线不相同的天线的编号。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述同类型天线在相同阻隔材料下的特性判断所述同类型天线阻抗的一致性，包括：

通过时域反射计测试系统检测所述同类型天线在相同阻隔材料下的阻抗特性。

6.根据权利要求1所述的毫米波天线阻抗一致性检测方法，其特征在于，所述将所述同类型天线放置在相同的阻隔材料下的步骤包括：

所述阻隔材料紧贴设置于所述待测天线的密集区，并根据所述待测天线的尺寸设置大小。

7.一种毫米波天线阻抗一致性的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：

基座；

待测天线承载平台，所述待测天线承载平台设置于所述基座上，且所述待测天线承载平台具有承载面用于承载待测天线；

阻隔材料及阻隔材料放置平台，所述阻隔材料放置平台设置于所述待测天线承载平台上方，且通过基座柱与所述待测天线承载平台连接，用于放置所述阻隔材料；

时域反射计，所述时域反射计的探头与所述待测天线的接触点电性接触，用于检测所述待测天线的阻抗特性。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述阻隔材料包括：

吸波材料或金属材料。

9.一种计算机设备，其特征在于，包括处理器、存储器及存储的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1-6任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现权利要求1-6任一项所述方法的步骤。