[发明专利]毫米波天线阻抗一致性检测方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请公开了毫米波天线阻抗一致性检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：将待测天线按照天线类型进行分类，并将同类型天线放置在相同的阻隔材料下，再根据同类型天线在相同阻隔材料下的特性判断同类型天线阻抗的一致性。通过上述方法，本申请能够快速比对同种天线的阻抗特性，使天线的生产制程保持一致性并确保天线的特性达到设计期望值。

技术领域

本申请涉及天线性能测试技术领域，特别是涉及一种毫米波天线阻抗一致性检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

随着无线通信产业的快速发展，应用于无线通信产业的天线需求量也越来越大，尤其是第五代移动通信的到来，毫米波天线技术作为其核心技术之一更是越来越受到重视，广泛应用到各种终端中(诸如手机，平板电脑，可移动穿戴设备等)。而，天线的良劣是影响通讯质量非常关键的因素，尤其是毫米波天线的阻抗特性会很大影响天线的有效全向辐射功率或输出信号与噪声之比(信噪比)等性能，因此，在毫米波制程工艺中，设计天线的一致性是否满足设计要求十分重要。

发明内容

本申请提供一种毫米波天线阻抗一致性检测方法、装置、设备及存储介质，可以快速比对同种天线的阻抗特性，使天线的生产制程保持一致性并确保天线的特性达到设计期望值。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种毫米波天线阻抗一致性检测方法。该方法包括：将待测天线按照天线类型进行分类；将同类型天线放置在相同的阻隔材料下；根据同类型天线在相同阻隔材料下的特性判断同类型天线阻抗的一致性。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种毫米波天线阻抗一致性检测装置。该装置包括：基座、待测天线承载平台、阻隔材料、阻隔材料放置平台、时域反射计。其中，待测天线承载平台设置于基座上，且待测天线承载平台具有承载面用于承载待测天线；阻隔材料放置平台设置于待测天线承载平台上方，且通过基座柱与待测天线承载平台连接，用于放置阻隔材料；时域反射计的探头与待测天线的接触点电性接触，用于检测待测天线的阻抗特性。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种计算机设备。该计算机设备包括：处理器、存储器及存储的计算机程序，处理器执行本申请毫米波天线阻抗一致性检测方法相应的程序以此实现快速比对同种天线的阻抗特性，使天线的生产制程保持一致性。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种计算机存储介质。该计算机存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现快速比对同种天线的阻抗特性，使天线的生产制程保持一致性。

本申请的有益效果是：将待测天线按照天线类型进行分类，并将同类型天线放置在相同的阻隔材料下，再根据同类型天线在相同阻隔材料下的特性判断同类型天线阻抗的一致性，通过上述方法，本申请能够快速比对同种天线的阻抗特性，使天线的生产制程保持一致性并确保天线的特性达到设计期望值。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本申请提供的毫米波天线阻抗一致性检测方法的第一实施例的流程示意图；

图2是本申请第一实施例中包含步骤S100的流程示意图；

图3是图2中步骤S100一实施方式的结构示意图；

图4是图1中步骤S130一实施方式的流程示意图；

图5是图4中步骤S131中阻抗满足一致性的示意图；

图6是图4中步骤S132中阻抗不满足一致性的示意图；