[发明专利]线阵相机静态检校装置及其检校方法有效

专利信息
申请号: 202010681242.7 申请日: 2020-07-15
公开(公告)号: CN111757101B 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 徐冲;陶为俊;浣石 申请(专利权)人: 季华实验室
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 北京开阳星知识产权代理有限公司 11710 代理人: 罗程凯
地址: 528200 广东省佛山市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 相机 静态 装置 及其 校方
【权利要求书】:

1.线阵相机静态检校装置,其特征是,包括

标靶面,其设有至少2个检校标志,每个检校标志可让线阵相机感应生成对应的图像信号;检校标志包括至少2个第一检校标志,每个第一检校标志包括至少2个直条状的第一感应区和至少2个直条状的第二感应区;

安装位,用于安装被检校的线阵相机;

被检校的线阵相机按其安装基准安装在所述安装位后,若该线阵相机的成像光轴及姿态与该线阵相机的安装基准之间的俯仰角、侧倾角均无偏差,该线阵相机一次曝光的拍摄区域为预想拍摄区域,预想拍摄区域沿X轴延伸且以X轴为轴对称;

所有第一检校标志沿X轴排列,同一个第一检校标志的第一感应区与第二感应区沿X轴排列,各个第一感应区沿第一方向延伸,并沿X轴依次等间距排列,各个第二感应区沿第二方向延伸,并沿X轴依次等间距排列,第一方向与第二方向相互不平行,且均与X轴不平行,相邻的第一感应区之间沿X轴的间距为第一间距,相邻的第二感应区之间沿X轴的间距为第二间距,第一间距与第二间距相等;

在被检校的线阵相机一次曝光拍摄得到的图像中,根据各个第一检校标志第一感应区的图像的数字信号与第二感应区的图像的数字信号之间的相位差测算得出线列穿过该第一检校标志时在Y轴上的高度;

所述俯仰角的 偏差通过计算线列穿过各个第一检校标志时在Y轴上的高度的平均值来获得,所述侧倾角的 偏差通过计算线列穿过两个第一检校标志时在Y轴上的高度的差值来获得,所述线列为线阵相机一次曝光的拍摄区域。

2.如权利要求1所述的线阵相机静态检校装置,其特征是,第一方向与Y轴平行,Y轴在标靶面上且与X轴垂直。

3.如权利要求1所述的线阵相机静态检校装置,其特征是,

被检校的线阵相机按其安装基准安装在安装位后,该线阵相机的预想光轴穿过其中一个检校标志的中心,在被检校的线阵相机一次曝光拍摄得到的图像中,根据该检校标志的图像的位置偏差测算得出该线阵相机的成像光轴及姿态与该线阵相机的安装基准之间的方位角偏差;

线阵相机的成像光轴及姿态与该线阵相机的安装基准之间的方位角、俯仰角、侧倾角均无偏差时,该线阵相机的成像光轴为预想光轴。

4.如权利要求3所述的线阵相机静态检校装置,其特征是,被所述预想光轴穿过中心的检校标志为最靠近中间位置的检校标志,根据该检校标志的图像与其他检校标志的图像之间的距离测算得出该线阵相机的光学畸变情况。

5.如权利要求4所述的线阵相机静态检校装置,其特征是,检校标志至少有3个,所有检校标志沿X轴等间距排列。

6.如权利要求4或5所述的线阵相机静态检校装置,其特征是,检校标志还包括第二检校标志,被所述预想光轴穿过中心的检校标志为第二检校标志,根据第二检校标志的图像测算该线阵相机的光学畸变情况。

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