[发明专利]一种面向毫米波终端的性能测试方法和系统有效
申请号: | 202010682118.2 | 申请日: | 2020-07-15 |
公开(公告)号: | CN111884734B | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
发明(设计)人: | 魏贵明;乔尚兵;张翔;李雷;郭宇航;王飞龙;刘晓龙;吴翔;张宇;潘冲;任宇鑫;徐菲 | 申请(专利权)人: | 中国信息通信研究院 |
主分类号: | H04B17/15 | 分类号: | H04B17/15;H04B17/29;H04B17/00 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 南霆 |
地址: | 100191 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 面向 毫米波 终端 性能 测试 方法 系统 | ||
1.一种面向毫米波终端的性能测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
生成下行毫米波信号,选取测试的信道模型,将所述下行毫米波信号叠加所述信道模型对应的衰落特征,选取测试探头,使得所述测试探头构建与所述信道模型相同的角度功率谱,发送给毫米波终端;
所述选取测试探头,构建与所述信道模型相同的角度功率谱进一步包括:
将各信道模型的簇进行叠加,得到联合模型;
从所有探头中选取最优探头集合,探头数量为S,所述S是不小于1的整数,所述最优探头集合构建的角度功率谱与联合模型的角度功率谱相似度最大;
选取一个待测信道模型,从所述最优探头集合中选取K个探头作为测试探头组合,K是不小于1且不大于S的整数,所述测试探头组合构建的角度功率谱与待测信道模型的角度功率谱相似度最大;
更换一个待测信道模型,重复以上步骤,为所有待测信道模型选取测试探头组合;
所述毫米波终端接收信号,返回上行毫米波信号;
将所述上行毫米波信号叠加所述信道模型对应的衰落特征,对所得信号进行分析,得到所述毫米波终端在所述信道模型条件下的性能参数;
更换测试信道模型,重复以上步骤进行测试。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述下行毫米波信号叠加所述信道模型对应的衰落特征进一步包括:
将下行毫米波信号降频;
叠加所述信道模型对应的衰落特征;
将信号升频至毫米波信号。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述上行毫米波信号叠加所述信道模型对应的衰落特征进一步包括:
将上行毫米波信号降频;
叠加所述信道模型对应的衰落特征;
将信号升频至毫米波信号。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将各信道模型的簇进行叠加,得到联合模型进一步包括:
选取一个待测信道模型,将信道模型各簇按照原始功率进行从大到小排序;
将功率最大簇的离开角作为基站波束方向,计算得到基站波束的赋形形状以及在空间各簇方向上的增益;
根据各簇原始功率以及簇所在方向的基站波束增益,计算得到各簇的综合功率;
将信道模型各簇按照综合功率进行从大到小排序,保留累计占有总功率99.99%的簇,剔除剩下的低功率簇,得到当前信道模型的简化模型;
更换信道模型,重复以上步骤,得到所有待测信道模型的简化模型;
移动各信道模型简化模型的簇到达角,使得各信道模型综合功率最大簇的到达角方向重合。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所有探头中选取最优探头集合进一步包括:
为每个簇分配初始数量的探头,每个簇分配的探头数量比例与所述联合模型的簇功率比相同,探头总数量是S;
在每个簇周围选取距其最近的所分配到的对应数量的探头,确定初始探头位置集合;
计算初始探头构建的角度功率谱与联合信道模型的角度功率谱相似度,得到探头集合对应的权重矢量;
将权重最小探头置为不可选状态,并从可选探头集合中随机选取一个新的探头,重新计算功率谱相似度;
重复上述步骤,使得探头构建的角度功率谱与联合信道模型的角度功率谱相似度最大,得到最优探头集合。
6.如权利要求5所述的方法,其特征在于,计算探头构建的角度功率谱与信道模型的角度功率谱相似度,进一步包括:
计算联合模型目标角度功率谱:
其中,为联合模型目标角度功率谱,Pti(Ω)是单个模型的角度功率谱,N为待测信道模型数量;
离散探头构建的角度功率谱与信道模型的角度功率谱相似度是:
其中,PSP是离散探头构建的角度功率谱与信道模型的角度功率谱相似度,为为信道模型角度功率谱,为由暗室探头构建的角度功率谱,是探头位置集合,是探头位置集合对应的权重矢量;
探头位置选取的目标是使PSP取得最大值,转化为求取:
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