[发明专利]杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置及方法有效
申请号: | 202010694073.0 | 申请日: | 2020-07-17 |
公开(公告)号: | CN111982467B | 公开(公告)日: | 2021-07-27 |
发明(设计)人: | 陈钦芳;薛要克;马占鹏;沈阳;林上民;刘美莹 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G02B27/62;G02B7/00 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 王杨洋 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 平行 光轴 系统 对准 装置 方法 | ||
1.一种杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置,其特征在于:包括结构框(1)、水平线激光器(2)、竖直线激光器(3)、接收屏(4)、以及沿光路依次设置的干涉仪(5)、平面折轴镜(6)和抛物面镜(7);待测光机系统(8)自带中心标记线;
所述平面折轴镜(6)和抛物面镜(7)组成平行光管;
所述平行光管设置于结构框(1)内;
所述干涉仪(5)设置于平行光管的焦点处;
所述结构框(1)的出射端面上开设有出射口(11),出射口(11)处标记有光轴水平位置标记线(12)和光轴竖直位置标记线(13);
所述水平线激光器(2)和竖直线激光器(3)均安装于结构框(1)出射端面上;
所述水平线激光器(2)和竖直线激光器(3)出射激光束在正前方分别呈现为一字型的水平激光线和竖直激光线,水平激光线和竖直激光线分别经待测光机系统(8)出射端面上自带的X轴基准平面镜(81)和Y轴基准平面镜(82)反射,得到水平反射激光线和竖直反射激光线;
所述接收屏(4)为可透过性接收屏(4),设置于水平激光线和竖直激光线与水平反射激光线和竖直反射激光线的公共区域中,用于接收水平激光线和竖直激光线与水平反射激光线和竖直反射激光线。
2.根据权利要求1所述的杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置,其特征在于:所述接收屏(4)位于待测光机系统(8)与平行光管之间靠近平行光管一侧区域。
3.根据权利要求2所述的杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置,其特征在于:所述接收屏(4)设置于水平激光线和竖直激光线与水平反射激光线和竖直反射激光线的交点处。
4.根据权利要求3所述的杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置,其特征在于:所述水平线激光器(2)和竖直线激光器(3)的激光波长范围均选取可见光范围。
5.根据权利要求4所述的杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置,其特征在于:所述水平线激光器(2)和竖直线激光器(3)出射激光的线宽不超过2mm。
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