[发明专利]杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置及方法

说明书

本发明涉及对准装置及方法，具体涉及一种杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置及方法。本发明的目的是解决现有技术中，自准直瞄准法存在装置结构复杂、成本高，立方镜间接引出光轴法存在效率低、操作难度大，待测系统聚焦判断法存在只能定性判断且仅适用于单纯光学系统的技术问题，提供一种杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置及方法。该装置的平面折轴镜和抛物面镜组成平行光管设置于结构框内；水平线激光器和竖直线激光器均安装于结构框上并出射激光线分别经待测光机系统的X轴基准平面镜和Y轴基准平面镜反射，可透过性接收屏设置于水平和竖直激光线与各自反射激光线的公共区域中。该方法利用该装置进行。

技术领域

本发明涉及一种对准装置及方法，具体涉及一种杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置及方法。

背景技术

平行光管是光学装校与检测中最基本的光学仪器，平行光管与光源配合可提供无穷远准直目标，用于模拟不同特征的空间目标，比如在杂散光测试(即点源透过率杂散光测试，简称杂光测试)中，由于点源透过率曲线为待测光机系统杂散光的角度分布函数，故需要将平行光管与光源光轴对准，来配合模拟无穷远杂光(杂散光)辐射，而后标定(引出)平行光管的光轴，使得平行光管的光轴与待测光机系统的光轴对准。

将平行光管光轴与待测光机系统光轴进行对准时，通常要求待测光机系统提供基准平面镜(即基准平面镜)将自身光轴引出，对准中，常用的读准方法有自准直瞄准法，立方镜间接引出光轴法和待测系统聚焦判断法三种。

自准直瞄准法的精度可达秒级(1°/3600)，而杂光测试的对准精度只要达到0.1°即可，并且这种方法需要在平行光管光路中增加分束镜、测量目镜、分化板和复位结构等附件，这会增加光源系统的结构复杂性和成本，而且会引入杂光。

立方镜间接引出光轴法是指借助经纬仪将平行光管光轴和待测光机系统光轴分别引出到两立方镜处，通过测量两立方镜的角度关系实现光轴对准。但是这种方法效率低，操作难度大，需要对操作人员进行专业培训。

待测系统聚焦判断法是指给定平行光管输出光轴后，调整待测光机系统，通过待测光机系统探测器输出信号特征来判断平行光管光轴与待测光机系统光轴是否对准，该方法只能定性地判断，且由于纯机械系统没有焦面，故这种方法仅适用于单纯光学系统。

发明内容

本发明的目的是解决现有杂光测试平行光管光轴与光机系统光轴对准中，自准直瞄准法存在装置结构复杂、成本高，立方镜间接引出光轴法存在效率低、操作难度大，待测系统聚焦判断法只能定性判断且仅适用于单纯光学系统的技术问题，提供一种杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置及方法。

为解决上述技术问题，本发明提供的技术解决方案如下：

本发明提供一种杂光测试中平行光管光轴与光机系统光轴对准装置，其特殊之处在于：包括结构框、水平线激光器、竖直线激光器、接收屏、以及沿光路依次设置的干涉仪、平面折轴镜和抛物面镜；

所述平面折轴镜和抛物面镜组成平行光管；

所述平行光管设置于结构框内；

所述干涉仪设置于平行光管的焦点处；

所述结构框的出射端面上开设有出射口；

所述水平线激光器和竖直线激光器均安装于结构框出射端面上；

所述水平线激光器和竖直线激光器出射激光束在正前方分别呈现为一字型的水平激光线和竖直激光线，水平激光线和竖直激光线分别经待测光机系统出射端面上自带的X轴基准平面镜和Y轴基准平面镜反射，得到水平反射激光线和竖直反射激光线；

所述接收屏为可透过性接收屏，设置于水平激光线和竖直激光线与水平反射激光线和竖直反射激光线的公共区域中。