[发明专利]一种基板检测装置

说明书

本发明涉及电子产品检测设备技术领域，具体公开了一种基板检测装置。该基板检测装置包括框体和支撑机构，支撑机构用于支撑待检测的基板，支撑机构滑动连接于框体，以在第一状态和第二状态之间切换，支撑机构处于第一状态和第二状态时在基板上形成的投影不重合。首先支撑机构处于第一状态，位于第一状态的支撑机构在基板上会形成投影，位于框体下侧的CCD相机无法检测到支撑机构在基板上的投影的区域，该区域为第一不检区。然后支撑机构在框体上滑动至第二状态，位于第二状态的支撑机构在基板上的投影形成第二不检区，处于第一状态和第二状态的支撑机构在基板上的投影不重合，进而使得基板的下表面均能够被检测到，保证检测结果的准确性。

技术领域

本发明涉及电子产品检测设备技术领域，尤其涉及一种基板检测装置。

背景技术

各类基板，如液晶面板、OLED(Organic Light-Emitting Display)面板、触控面板、玻璃基板等，在出厂前需要对其上下表面进行检测，以确保基板为合格品。

在对基板进行检测时，一般将基板放置到检测装置上，基板检测装置包括多个间隔设置的支撑条，用于支撑基板。基板检测装置的上侧和下侧均设置CCD相机，以采集基板上下表面的图像。现有技术中，支撑条会遮挡部分基板的下表面，位于下侧的CCD相机无法检测到基板被支撑条遮挡的部分，从而形成不检区。由于基板尺寸越来越大，需要更多的支撑条支撑，因此不检区的面积变大，影响检测结果的准确性。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基板检测装置，以避免出现不检区，提高检测结果的准确性。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种基板检测装置，包括：

框体；

支撑机构，用于支撑待检测的基板，所述支撑机构滑动连接于所述框体，以在第一状态和第二状态之间切换，所述支撑机构处于所述第一状态和所述第二状态时在所述基板上的投影不重合。

作为优选，所述支撑机构包括上支撑组件，所述上支撑组件包括：

第一支撑条，多个所述第一支撑条沿第一方向平行设置，以支撑所述基板；所述第一支撑条沿第二方向延伸，所述第一支撑条沿所述第二方向的两端分别沿所述第一方向滑动连接于所述框体；所述第一方向与所述第二方向垂直；

当所述支撑机构处于所述第一状态时，所述第一支撑条滑动至第一位置，当所述支撑机构处于所述第二状态时，所述第一支撑条滑动至第二位置。

作为优选，所述上支撑组件还包括：

第一连接板，所述第一支撑条沿所述第二方向的两端均连接有所述第一连接板，相邻的两个所述第一支撑条通过所述第一连接板连接。

作为优选，所述上支撑组件还包括：

上导向组件，所述上导向组件包括第一导轨和与所述第一导轨滑动连接的第一滑块；

所述第一导轨的长度方向与所述第一方向平行，所述第一支撑条沿所述第二方向的两端均连接有所述第一滑块，所述框体上与所述第一滑块对应的位置设置有所述第一导轨。

作为优选，所述上支撑组件还包括：

第一驱动件，设置于所述框体上，所述第一驱动件的输出端与所述第一支撑条或所述第一连接板连接，以驱动所述第一支撑条沿所述第一方向移动。

作为优选，所述支撑机构还包括下支撑组件，所述下支撑组件包括：

第二支撑条，沿所述第一方向延伸，所述第二支撑条沿所述第一方向的两端分别沿第二方向滑动连接于所述框体，且所述第二支撑条与所述第一支撑条滑动连接，以支撑所述第一支撑条；