[发明专利]扫描安全数字输入输出接口窗口的实现方法和装置在审

专利信息
申请号: 202010712975.2 申请日: 2020-07-22
公开(公告)号: CN111858215A 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 李湘锦;张鹏;贾宗铭 申请(专利权)人: 记忆科技(深圳)有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 深圳市精英专利事务所 44242 代理人: 黄文锋
地址: 518000 广东省深圳市南山区蛇口街道蛇*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 扫描 安全 数字 输入输出 接口 窗口 实现 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种扫描安全数字输入输出接口窗口的实现方法,其特征在于,所述方法包括:

在SDIO和SDIO控制器之间接入延时模块和延时控制模块,所述延时模块包括多个延时单元,所述延时控制模块用于控制所述延时模块;

在芯片进行FT测试时,给所述SDIO中的SDIO_CLK端口和DAT IO端口同时输入同相位的时钟;

启动内部扫描程序,得到SDIO_CLK采样DAT IO的最佳窗口;

将得到的SDIO_CLK采样DAT IO的最佳窗口烧写到一次性可编程储存器中,供后续使用。

2.根据权利要求1所述的扫描安全数字输入输出接口窗口的实现方法,其特征在于,所述延时控制模块还用于通过选取所述延时模块中延时单元的数量,以实现对所述延时模块的延时进行控制。

3.根据权利要求2所述的扫描安全数字输入输出接口窗口的实现方法,其特征在于,所述延时控制模块还包括相位监测单元,所述相位监测单元用于监测经过延时后信号的相位。

4.根据权利要求3所述的扫描安全数字输入输出接口窗口的实现方法,其特征在于,所述启动内部扫描程序,得到SDIO_CLK采样DAT IO的最佳窗口的步骤包括:

通过所述延时控制模块增加延时单元数量并进行采样;

分别记录下经过一次延时的第一相位和经过二次延时的第二相位的采样值,并保证分别采样到上升沿一次及下降沿一次;

分别记录采样到上升沿和下降沿对应的延时单元数量,并取平均值得到SDIO_CLK采样DAT IO的最佳窗口;

输出phase_lock以表示扫描完成。

5.一种扫描安全数字输入输出接口窗口的实现装置,其特征在于,所述装置包括:

接入模块,所述接入模块用于在SDIO和SDIO控制器之间接入延时模块和延时控制模块,所述延时模块包括多个延时单元,所述延时控制模块用于控制所述延时模块;

时钟输入模块,所述时钟输入模块用于在芯片进行FT测试时,给所述SDIO中的SDIO_CLK端口和DAT IO端口同时输入同相位的时钟;

内部扫描模块,所述内部扫描模块用于启动内部扫描程序,得到SDIO_CLK采样DAT IO的最佳窗口;

烧写模块,所述烧写模块用于将得到的SDIO_CLK采样DAT IO的最佳窗口烧写到一次性可编程储存器中,供后续使用。

6.根据权利要求5所述的扫描安全数字输入输出接口窗口的实现装置,其特征在于,所述延时控制模块还用于通过选取所述延时模块中延时单元的数量,以实现对所述延时模块的延时进行控制。

7.根据权利要求6所述的扫描安全数字输入输出接口窗口的实现装置,其特征在于,所述延时控制模块还包括相位监测单元,所述相位监测单元用于监测经过延时后信号的相位。

8.根据权利要求7所述的扫描安全数字输入输出接口窗口的实现装置,其特征在于,所述内部扫描模块还用于:

通过所述延时控制模块增加延时单元数量并进行采样;

分别记录下经过一次延时的第一相位和经过二次延时的第二相位的采样值,并保证分别采样到上升沿一次及下降沿一次;

分别记录采样到上升沿和下降沿对应的延时单元数量,并取平均值得到SDIO_CLK采样DAT IO的最佳窗口;

输出phase_lock以表示扫描完成。

9.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。

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