[发明专利]扫描安全数字输入输出接口窗口的实现方法和装置

说明书

本申请涉及一种扫描安全数字输入输出接口窗口的实现方法、装置、计算机设备和存储介质，其中该方法包括：在SDIO和SDIO控制器之间接入延时模块和延时控制模块，所述延时模块包括多个延时单元，所述延时控制模块用于控制所述延时模块；在芯片进行FT测试时，给所述SDIO中的SDIO_CLK端口和DAT IO端口同时输入同相位的时钟；启动内部扫描程序，得到SDIO_CLK采样DAT IO的最佳窗口；将得到的SDIO_CLK采样DAT IO的最佳窗口烧写到一次性可编程储存器中，供后续使用。本发明通过加入输入接口的校准技术，保证在不同的工艺角下，通过调相以满足采样标准，减轻各工艺角下时序收敛的难度。

技术领域

本发明涉及固态存储技术领域，特别是涉及一种扫描安全数字输入输出接口窗口的实现方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

随着固态硬盘价格的下跌，固态硬盘越来越普及，SSD(Solid State Drive)以其优越的性能更是发展迅猛，各大电脑厂商纷纷将硬盘做成SSD，从可靠性和性能方面为用户提供较好的体验。

目前，在传统技术中芯片都是通过SDIO slave device(安全数字输入输出接口从设备)来实现安全数字输入输出。具体地，接收从外部输入的SD_CLK(接口时钟)，设备根据SD_CLK采样SD_DATA(接口数据)。然而，在芯片设计的时候，如果CLK delay在各corner(工艺角)下的延时波动比较大，那么就会导致在各工艺角下时序收敛会很困难。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种可以减轻各工艺角下时序收敛难度的扫描安全数字输入输出接口窗口的实现方法、装置、计算机设备和存储介质。

一种扫描安全数字输入输出接口窗口的实现方法，所述方法包括：

在SDIO和SDIO控制器之间接入延时模块和延时控制模块，所述延时模块包括多个延时单元，所述延时控制模块用于控制所述延时模块；

在芯片进行FT测试时，给所述SDIO中的SDIO_CLK端口和DAT IO端口同时输入同相位的时钟；

启动内部扫描程序，得到SDIO_CLK采样DAT IO的最佳窗口；

将得到的SDIO_CLK采样DAT IO的最佳窗口烧写到一次性可编程储存器中，供后续使用。

在其中一个实施例中，所述延时控制模块还用于通过选取所述延时模块中延时单元的数量，以实现对所述延时模块的延时进行控制。

在其中一个实施例中，所述延时控制模块还包括相位监测单元，所述相位监测单元用于监测经过延时后信号的相位。

在其中一个实施例中，所述启动内部扫描程序，得到SDIO_CLK采样DAT IO的最佳窗口的步骤包括：

通过所述延时控制模块增加延时单元数量并进行采样；

分别记录下经过一次延时的第一相位和经过二次延时的第二相位的采样值，并保证分别采样到上升沿一次及下降沿一次；

分别记录采样到上升沿和下降沿对应的延时单元数量，并取平均值得到SDIO_CLK采样DAT IO的最佳窗口；

输出phase_lock以表示扫描完成。

一种扫描安全数字输入输出接口窗口的实现装置，所述装置包括：

接入模块，所述接入模块用于在SDIO和SDIO控制器之间接入延时模块和延时控制模块，所述延时模块包括多个延时单元，所述延时控制模块用于控制所述延时模块；

时钟输入模块，所述时钟输入模块用于在芯片进行FT测试时，给所述SDIO中的SDIO_CLK端口和DAT IO端口同时输入同相位的时钟；