[发明专利]一种用于晶片标记的激光设备有效
申请号: | 202010713301.4 | 申请日: | 2020-07-22 |
公开(公告)号: | CN111872545B | 公开(公告)日: | 2022-05-06 |
发明(设计)人: | 凌步军;朱鹏程;袁明峰;吕金鹏;赵有伟;滕宇;孙月飞;冷志斌;冯高俊 | 申请(专利权)人: | 江苏亚威艾欧斯激光科技有限公司 |
主分类号: | B23K26/042 | 分类号: | B23K26/042;B23K26/70;B23K26/064 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 林凡燕 |
地址: | 225600 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 晶片 标记 激光设备 | ||
本发明提出一种用于晶片标记的激光设备,包括:激光器,用于发射激光束;扩束镜,用于对所述激光束进行扩束和准直;光束调节单元,用于调节所述激光束的方向;反射镜,用于改变所述激光束的方向;聚焦镜头,用于对所述激光束进行聚焦,以使所述激光束垂直射出;其中,所述激光器,所述扩束镜,所述光束调节单元和所述反射镜在第一方向上依次设置,所述反射镜,所述聚焦镜头和所述载台在第二方向上依次设置,所述第一方向垂直所述第二方向;其中,所述载台的一端设置有采集器,所述载台的另一端设置有驱动单元,所述驱动单元带动所述载台进行直线运动,以将所述采集器移动至校正区内。本发明提出的用于晶片标记的激光设备使用寿命长,工作效率高。
技术领域
本发明涉及激光技术领域,特别涉及一种用于晶片标记的激光设备。
背景技术
在半导体器件制造工艺中,在大致圆板形状的晶片衬底的表面上,利用网状排列的被称作空包渠道的分割预定线划分成多个区域,通过在划分的区域中形成IC、LSI等器件,就构成了半导体晶片。这样构成的半导体器件,通过沿着空白渠道切断开来就形成了一个个的器件。
在半导体晶片上分布着数千或数万个芯片,为了按照生产批次区分这些芯片,需要在每个芯片的表面设置字母或符号,用于标记每个芯片。在现有技术中,通常使用激光器对芯片进行标记,但是一些激光器在长时间使用之后,激光器发射的激光束会产生偏差,导致无法在芯片想要的位置上设置标记。
发明内容
鉴于上述现有技术的缺陷,本发明提出一种用于晶片标记的激光设备,该激光设备可以进行校正,保证该激光设备在长时间使用后不出现偏差。
为实现上述目的及其目的,本发明提出一种用于晶片标记的激光设备,包括:
激光器,用于发射激光束;
扩束镜,用于对所述激光束进行扩束和准直;
光束调节单元,用于调节所述激光束的方向;
反射镜,用于改变所述激光束的方向;
聚焦镜头,用于对所述激光束进行聚焦,以使所述激光束垂直射出;
其中,所述激光器,所述扩束镜,所述光束调节单元和所述反射镜在第一方向上依次设置,所述反射镜,所述聚焦镜头和所述载台在第二方向上依次设置,所述第一方向垂直所述第二方向;
其中,所述载台的一端设置有采集器,所述载台的另一端设置有驱动单元,所述驱动单元带动所述载台进行直线运动,以将所述采集器移动至校正区内;
其中,所述校正区内设置有多个校正点,当所述采集器进入所述校正区时,所述采集器的中心与所述校正点重合,当所述激光束与所述校正点之间存在位置偏差时,所述采集器将所述位置偏差发送至所述光束调节单元,以调整所述激光束的方向。
进一步地,还包括控制单元和旋转组件,所述控制单元连接所述旋转组件。
进一步地,所述光束调节单元设置在所述旋转组件上。
进一步地,所述载台包括一通孔,所述晶片设置在所述通孔上。
进一步地,当所述激光设备对所述晶片进行标记工作时,所述激光束照射至所述载台上。
进一步地,所述采集器内设置有采集部,所述采集部为相机。
进一步地,所述校正区位于所述聚焦镜头和所述载台之间。
进一步地,所述反射镜为平面反射镜,所述反射镜对所述激光束的反射率大于99.99%。
进一步地,还包括衰减器,所述衰减器位于所述激光器和所述扩束镜之间。
进一步地,所述激光束的波长在540-560nm。
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