[发明专利]显示基板及其测试方法、显示装置有效

专利信息
申请号: 202010714082.1 申请日: 2020-07-22
公开(公告)号: CN111816685B 公开(公告)日: 2022-12-13
发明(设计)人: 麻清琳;赵言;孙禄标;见帅敏;董蕊;付焕章 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;绵阳京东方光电科技有限公司
主分类号: H01L27/32 分类号: H01L27/32;H01L51/52;G01B11/03
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 显示 及其 测试 方法 显示装置
【说明书】:

发明实施例提供一种显示基板及其制备方法、显示装置,能够提高像素测量位置精度,包括显示基板具有显示区和设置在显示区周边的周边区;显示基板包括:衬底;设置于衬底上的第一图案层,第一图案层可反光,第一图案层包括位于显示区的第一图案和位于周边区的第一保留图案,第一保留图案上具有镂空部;设置于衬底上且位于第一图案层远离衬底一侧的至少一个第二图案层,每个第二图案层包括位于显示区的第二图案和位于周边区的第二保留图案,第一保留图案在衬底上的正投影覆盖第二保留图案在衬底上的正投影,第二保留图案在衬底上的正投影与镂空部在衬底上的正投影不重叠。

技术领域

本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种显示基板及其测试方法、显示装置。

背景技术

自发光显示装置例如有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)显示基板具有自发光、轻薄、功耗低、色彩还原度好、反应灵敏以及广视角等有点,已经被越来越广泛的应用在手机、笔记本电脑以及电视等显示设备中,成为目前市场的主流。

发明内容

本发明的实施例提供一种显示基板及其测试方法、显示装置,能够提高像素测量位置精度。

为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:

一方面,提供一种显示基板,所述显示基板具有显示区和设置在显示区周边的周边区;包括,衬底、设置于所述衬底上的第一图案层以及设置于所述衬底上且位于所述第一图案层远离所述衬底一侧的至少一个第二图案层。

设置于所述衬底上的第一图案层,所述第一图案层可反光,所述第一图案层包括位于所述显示区的第一图案和位于所述周边区的第一保留图案,所述第一保留图案上具有镂空部。

设置于所述衬底上且位于所述第一图案层远离所述衬底一侧的至少一个第二图案层,每个第二图案层包括位于所述显示区的第二图案和位于所述周边区的第二保留图案,第一保留图案在所述衬底上的正投影覆盖所述第二保留图案在所述衬底上的正投影,所述第二保留图案在所述衬底上的正投影与所述镂空部在所述衬底上的正投影不重叠。

可选的,所述第一保留图案包括:间隔设置的第一子图案和第二子图案,所述第一子图案上具有所述镂空部,所述第二子图案在所述衬底上的正投影覆盖所述第二保留图案在所述衬底上的正投影。

或者,所述第一保留图案在所述衬底上的投影具有一条封闭的外轮廓线,所述镂空部和所述第一保留图案在所述衬底上的正投影均在所述的外轮廓线以内。

可选的,所述显示基板包括:多个所述第二图案层,不同第二图案层中的第二保留图案在所述衬底上的正投影的不重叠。

可选的,显示区包括多个子像素区。

所述第一图案层包括第一电极层,一个第一图案为位于一个子像素区中的第一电极。

所述第二图案层包括发光层,一个第二图案为位于一个子像素区中的发光图案。

可选的,多个子像素区包括:第一颜色子像素区、第二颜色子像素区和第三颜色子像素区。

所述显示基板包括多个所述发光层,多个所述发光层包括:第一发光层、第二发光层和第三发光层。

所述第一发光层包括位于所述第一颜色子像素区的第一发光图案和位于周边区的第一发光保留图案;所述第二发光层包括位于所述第二颜色子像素区的第二发光图案和位于周边区的第二发光保留图案;所述第三发光层包括:位于所述第三颜色子像素区的第三发光图案和位于周边区的第三发光保留图案;第一发光保留图案和第二发光保留图案和第三发光保留图案均为所述第二保留图案。

可选的,多个所述发光层还包括:第四发光图案层和第五发光图案层。

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