[发明专利]基板处理装置和基板处理方法在审
申请号: | 202010725079.X | 申请日: | 2018-10-12 |
公开(公告)号: | CN111816592A | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 李映一;崔重奉;李昇浩;朴贵秀;宋吉勋;吴承勋;金钟翰 | 申请(专利权)人: | 细美事有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/687;H01L21/02;H01L21/306;H01L21/311 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 王皓 |
地址: | 韩国忠清南道天安*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 装置 方法 | ||
1.一种基板处理装置,其包括:
支承构件,其用于支承基板;
处理液喷嘴,其用于将所述处理液供应至支承于所述支承构件的所述基板;
加热构件,其用于加热支承于所述支承构件的所述基板;和
控制器,其用于控制所述加热构件,以在处理所述基板的情况下至少一次地改变用于所述基板的加热温度。
2.根据权利要求1所述的基板处理装置,其中,所述控制器控制所述加热构件,以针对支承于所述支承构件的所述基板重复地执行高温加热和低温加热。
3.根据权利要求2所述的基板处理装置,其中,所述控制器控制所述加热构件,使得所述低温加热中的温度比所述高温加热中的温度低1/2。
4.根据权利要求2所述的基板处理装置,其中,所述控制器控制所述加热构件,以在所述低温加热之后执行所述高温加热。
5.根据权利要求2-4中任一项所述的基板处理装置,其中,所述控制器控制所述加热构件,使得当出现至少两个执行所述高温加热的区段时,所述至少两个执行所述高温加热的区段具有相同的持续时间。
6.根据权利要求2-4中任一项所述的基板处理装置,其中,所述控制器控制所述加热构件,使得当出现至少两个执行所述高温加热的区段时,所述至少两个执行所述高温加热的区段具有彼此不同的持续时间。
7.根据权利要求2-4中任一项所述的基板处理装置,其中,所述控制器控制所述加热构件,使得当出现至少两个执行所述低温加热的区段时,所述至少两个执行所述低温加热的区段具有相同的持续时间。
8.根据权利要求2-4中任一项所述的基板处理装置,其中,所述控制器控制所述加热构件,使得当出现至少两个执行所述低温加热的区段时,所述至少两个执行所述低温加热的区段具有彼此不同的持续时间。
9.根据权利要求2-4中任一项所述的基板处理装置,其中,所述控制器控制所述加热构件,使得执行所述高温加热的区段与执行所述低温加热的区段具有相同的持续时间。
10.根据权利要求2-4中任一项所述的基板处理装置,其中,所述控制器控制所述加热构件,使得所述低温加热中的温度包括所述低温加热中的第一温度、和所述低温加热中的第二温度,所述低温加热中的所述第二温度低于所述低温加热中的所述第一温度。
11.根据权利要求10所述的基板处理装置,其中,所述控制器控制所述加热构件,使得所述低温加热中的所述第一温度与所述低温加热中的所述第二温度之间的差异被形成为小于所述低温加热中的所述第一温度与所述高温加热中的温度之间的差异。
12.根据权利要求2-4中任一项所述的基板处理装置,其中,所述控制器控制所述加热构件,使得所述高温加热中的温度包括所述高温加热中的第一温度、和所述高温加热中的第二温度,所述高温加热中的所述第二温度低于所述高温加热中的所述第一温度。
13.根据权利要求12所述的基板处理装置,其中,所述控制器控制所述加热构件,使得所述高温加热中的所述第一温度与所述高温加热中的所述第二温度之间的差异被形成为小于所述高温加热中的所述第二温度与所述低温加热中的温度之间的差异。
14.根据权利要求2-4中任一项所述的基板处理装置,其中,所述控制器还控制所述支承构件,并且
其中,所述控制器控制所述加热构件和所述支承构件,使得支承于所述支承构件的所述基板的旋转速度,在执行所述高温加热的区段中比在执行所述低温加热的区段中更慢。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造