[发明专利]一种用于雷达天线罩表面测试点位复现的工艺方法有效

专利信息
申请号: 202010727409.9 申请日: 2020-07-24
公开(公告)号: CN111964577B 公开(公告)日: 2022-06-28
发明(设计)人: 李勇;刘华秋 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司济南特种结构研究所
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01C15/02
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 杜永保
地址: 250000*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 雷达 天线罩 表面 测试 复现 工艺 方法
【权利要求书】:

1.一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法,其特征在于,使用激光跟踪仪,包括以下步骤:

步骤一、在雷达天线罩外表面选取若干个位置安装固定靶标球座;

步骤二、保持雷达天线罩稳固状态,使用激光跟踪仪测量固定靶标球座的坐标以及所有测试点的坐标;

步骤三、以固定靶标球座作为基准点进行坐标系变换,将激光跟踪仪测量建立的原坐标系变换为以基准点为基准的基准坐标系,将所有测试点的坐标换算成基准坐标系的坐标值并记录;

步骤四、对雷达天线罩喷漆、变更涂层、打磨步骤后,需要复现测试点位置时,使用激光跟踪仪和固定靶标球座重新拟合基准坐标系,用记录的测试点在基准坐标系的坐标值找到所有测试点位置。

2.根据权利要求1所述的一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法,其特征在于,在雷达天线罩外表面选取4到6个位置安装固定靶标球座。

3.根据权利要求1所述的一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法,其特征在于,安装固定靶标球座的所有位置不能在一条直线上。

4.根据权利要求1所述的一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法,其特征在于,安装固定靶标球座的所有位置所形成的形状须将所有测试点的位置覆盖在内。

5.根据权利要求1所述的一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法,其特征在于,安装固定靶标球座的位置在雷达天线罩不用喷漆、打磨和涂层的位置。

6.一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法,其特征在于,使用激光跟踪仪,包括以下步骤:

步骤一、在雷达天线罩外表面选取若干个位置安装固定靶标球座;

步骤二、保持雷达天线罩稳固状态,使用激光跟踪仪建立以固定靶标球座为基准坐标的基准坐标系,基准坐标系相对于雷达天线罩固定;

步骤三、以基准坐标系为基准测量所有测试点的坐标值并记录;

步骤四、对雷达天线罩喷漆、变更涂层、打磨步骤后,需要复现测试点位置时,使用激光跟踪仪和固定靶标球座重新拟合基准坐标系,用记录的测试点在基准坐标系的坐标值找到所有测试点位置。

7.一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法,其特征在于,使用激光跟踪仪和装检工装,包括以下步骤:

步骤一、将雷达天线罩和激光跟踪仪安装在装检工装上;

步骤二、在装检工装上设定若干个固定基准点安装固定靶标球座;

步骤三、使用激光跟踪仪测量固定靶标球座的坐标以及雷达罩上所有测试点的坐标;

步骤四、以固定靶标球座作为基准点进行坐标系变换,将激光跟踪仪测量建立的原坐标系变换为以基准点为基准的基准坐标系,将所有测试点的坐标换算成基准坐标系的坐标值并记录;

步骤五、对雷达天线罩喷漆、变更涂层、打磨步骤后,需要复现测试点位置时,使用激光跟踪仪和固定靶标球座重新拟合基准坐标系,用记录的测试点在基准坐标系的坐标值找到所有测试点位置。

8.根据权利要求7所述的一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法,其特征在于,在装检工装上设定4个固定基准点安装固定靶标球座。

9.一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法,其特征在于,使用激光跟踪仪和装检工装,包括以下步骤:

步骤一、将雷达天线罩和激光跟踪仪安装在装检工装上;

步骤二、在装检工装上设定若干个固定基准点安装固定靶标球座;

步骤三、使用激光跟踪仪建立以固定靶标球座为基准坐标的基准坐标系,基准坐标系相对于雷达天线罩固定;

步骤四、以基准坐标系为基准测量所有测试点的坐标值并记录;

步骤五、对雷达天线罩喷漆、变更涂层、打磨步骤后,需要复现测试点位置时,使用激光跟踪仪和固定靶标球座重新拟合基准坐标系,用记录的测试点在基准坐标系的坐标值找到所有测试点位置。

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