[发明专利]一种用于雷达天线罩表面测试点位复现的工艺方法有效
申请号: | 202010727409.9 | 申请日: | 2020-07-24 |
公开(公告)号: | CN111964577B | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 李勇;刘华秋 | 申请(专利权)人: | 中国航空工业集团公司济南特种结构研究所 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01C15/02 |
代理公司: | 中国航空专利中心 11008 | 代理人: | 杜永保 |
地址: | 250000*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 雷达 天线罩 表面 测试 复现 工艺 方法 | ||
本发明属于雷达天线罩制造技术领域,公开了一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法,使用激光跟踪仪,在雷达天线罩外表面选取若干个位置安装固定靶标球座;保持雷达天线罩稳固状态,使用激光跟踪仪测量固定靶标球座的坐标以及所有测试点的坐标;以固定靶标球座作为基准点变换坐标系,得到基准坐标系,将所有测试点的坐标换算成基准坐标系的坐标值并记录;对雷达天线罩喷漆、变更涂层、打磨步骤后,需要复现测试点位置时,使用激光跟踪仪和固定靶标球座重新拟合基准坐标系,用记录的测试点在基准坐标系的坐标值找到所有测试点位置。本发明有效解决了雷达天线罩等变曲率表面测试点位手工复位带来的效率低、精度差的问题。
技术领域
本发明属于雷达天线罩制造技术领域,涉及一种雷达天线罩关键测试点的定位方法,具体涉及一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法。
背景技术
在雷达天线罩隐身性能测试过程中,为了减少反射达到最佳的隐身能状态,需要通过隐身性能测试标定雷达天线罩表面的最佳测试状态锯齿形关键点位。点位标定后需要在雷达天线罩表面进行打磨、变更涂层等工序改变罩体状态,在此过程中测试标出的关键点位会被覆盖而后续的性能测试中则需要复现之前的关键点位进行测试对照。
当前在雷达天线罩体表面进行测试点位复现的方法是:喷漆前使用卡尺、角尺等测量工具标定这些测试点与工装上或罩体表面关键特征之间的位置关系,并将数据记录下来;待涂层系统喷涂完成后,再根据记录下来的相关位置数据借助测量工具向罩体表面复现出这些测试点。或者使用纸样板与雷达天线罩外表面符型后标记点位来实现点位复现。
由于雷达天线罩表面大多为变曲率的曲面,所以在喷漆前标定测试点位置的过程以及喷漆后向罩体表面复现测试点的过程中均存在较大的误差,且该误差中包含较多的随机误差,无规律可循。另外,向罩体表面复现测试点的过程中易对罩体表观造成损伤。所以目前采取的人工返点方式效率低、精度差,且有损伤罩体表观的潜在风险。
发明内容
为了解决上述问题,本发明提供了一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法,提高罩体表面测试点位复现精度和操作效率,同时避免罩体表观质量损伤等潜在风险的发生。
本发明的技术方案是:
一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法,使用激光跟踪仪,包括以下步骤:
步骤一、在雷达天线罩外表面选取若干个位置安装固定靶标球座;
步骤二、保持雷达天线罩稳固状态,使用激光跟踪仪测量固定靶标球座的坐标以及所有测试点的坐标;
步骤三、以固定靶标球座作为基准点变换坐标系,得到基准坐标系,将所有测试点的坐标换算成基准坐标系的坐标值并记录;
步骤四、对雷达天线罩喷漆、变更涂层、打磨步骤后,需要复现测试点位置时,使用激光跟踪仪和固定靶标球座重新拟合基准坐标系,用记录的测试点在基准坐标系的坐标值找到所有测试点位置。
进一步的,在雷达天线罩外表面选取4到6个位置安装固定靶标球座。4到6个位置的坐标就可以建立一个相对准确固定的坐标系。
进一步的,安装固定靶标球座的所有位置不能在一条直线上。处在一条直线上的基准点难以搭建一个基准坐标系。
进一步的,安装固定靶标球座的所有位置所形成的形状须将所有测试点的位置覆盖在内。这样保证所有的测试点都在坐标系的几个基准坐标内,可以提升测试点的坐标准确度。
进一步的,安装固定靶标球座的位置在雷达天线罩不用喷漆、打磨和涂层的位置。可以保证在复位坐标系时,坐标基准点的位置不发生改变。
一种用于雷达天线罩表面测试点复现的工艺方法,使用激光跟踪仪,包括以下步骤:
步骤一、在雷达天线罩外表面选取若干个位置安装固定靶标球座;
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