[发明专利]一种光纤衰减长度测量装置、系统及方法

权利要求书

1.一种光纤衰减长度测量装置，其特征在于，包括：

直线导轨，所述直线导轨上滑动设置不透光的滑台，所述滑台上设置有至少一个通孔，所述通孔的轴线与所述直线导轨的导向方向平行；

沿所述直线导轨的导向方向间隔设置有至少两个光纤支撑件，所述滑台位于两个所述光纤支撑件之间；

所述滑台上设置有与所述通孔一一对应连通的透光孔；

光线出射部件，用于通过各所述透光孔向所述通孔出射光线；和

光电探测元件，用于对光照强度进行采集。

2.根据权利要求1所述的光纤衰减长度测量装置，其特征在于，所述光线出射部件包括光源和分束器，所述分束器用于分解所述光源出射的光线，以生成多路光照强度相同的子光束。

3.根据权利要求2所述的光纤衰减长度测量装置，其特征在于，所述光源出射部件还包括用于对所述分束器输出的子光束进行扩束的扩束镜，所述扩束镜设置于所述透光孔的孔口处，来自所述光源的光线依次经过所述分束器、所述扩束镜和所述透光孔后出射至所述通孔。

4.根据权利要求1所述的光纤衰减长度测量装置，其特征在于，所述光纤支撑件具有至少一个用于支撑光纤的支撑区，所述支撑区与所述通孔一一对应同轴设置。

5.根据权利要求1所述的光纤衰减长度测量装置，其特征在于，还包括用于驱动所述滑台沿所述直线轨道作往复运动的驱动装置。

6.根据权利要求5所述的光纤衰减长度测量装置，其特征在于，所述直线导轨、所述光线出射部件、所述光电探测元件和所述驱动装置均设置于暗箱中。

7.一种光纤衰减长度测量系统，其特征在于，包括如权利要求1～6任一项所述的光纤衰减长度测量装置和分析处理单元，所述分析处理单元用于根据所述光线出射部件位于不同位置时，所述光电探测元件采集的光照强度，确定光纤的衰减长度。

8.一种光纤衰减长度测量方法，其特征在于，利用如权利要求7所述的光纤衰减长度测量系统进行测量，包括如下步骤：

用特定光照强度的光线照射穿设于所述通孔中的光纤；

至少改变一次光线在所述光纤上的照射位置；

根据至少两次照射所获得的光照强度计算所述光纤的衰减长度。

9.根据权利要求8所述的光纤衰减长度测量方法，其特征在于，所述根据至少两次照射所获得的光照强度计算所述光纤的衰减长度，依据如下公式进行：

I＝I₀ exp(-x/λ)；

其中，I为光线在所述光纤的某一位置照射所述光纤时所获得的光照强度，I₀为光线的初始光照强度，x为光线在所述光纤的某一位置照射所述光纤时，光线照射位置与所述光电探测元件之间的相对距离，λ为衰减长度；

基于线性拟合获得根据上述公式所绘制的曲线图的斜率，即得所述光纤的衰减长度。

10.根据权利要求8或9所述的光纤衰减长度测量方法，其特征在于，所述光纤为波移光纤；

所述光纤具有相对应的两个端面，其中一个端面作为出射端连接至所述光电探测元件，另一个端面进行涂黑处理。