[发明专利]一种光纤衰减长度测量装置、系统及方法

说明书

本申请公开了一种光纤衰减长度测量装置、系统及方法，该测量装置包括：直线导轨，所述直线导轨上滑动设置不透光的滑台，所述滑台上设置有至少一个通孔，所述通孔的轴线与所述直线导轨的导向方向平行；沿所述直线导轨的导向方向间隔设置有至少两个光纤支撑件，所述滑台位于两个所述光纤支撑件之间；所述滑台上设置有与所述通孔一一对应连通的透光孔；光线出射部件，用于通过各所述透光孔向所述通孔出射光线；和光电探测元件，用于对光照强度进行采集。本申请实现了对光纤衰减长度的自动化测量与分析，具有测量结果准确、可靠、可重复性好的优势；并实现了多根光纤的批量检测。

技术领域

本申请一般涉及光纤特征参数测量技术领域，具体涉及一种光纤衰减长度测量装置、系统及方法。

背景技术

波长位移光纤，即波移光纤广泛应用于粒子探测器中，满足全反射条件的发射光子沿着光纤传播，最终从光纤端面射出。由于光纤对光子有一定的吸收，发射光的强度会随着传播距离的增加而按照e指数规律下降，称为光纤衰减。波移光纤的衰减长度是反映其衰减特性的重要指标，现有的测量波移光纤衰减长度的方法一般是用蓝紫光从光纤侧面的多个位点依次照射光纤，通过依次检测输出端的光输出功率进行计算。测完一个位点后，需要手动改变照射光在光纤上的入射位置以进行下一位点的测量，且每次只能测量一根光纤，存在费时、费力、测量速度慢、测量精度差的缺陷。

发明内容

鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，本申请期望提供一种光纤衰减长度测量装置、系统及方法，以期解决现有技术中无法批量、快速、准确测量光纤衰减长度的缺陷。

作为本申请的第一方面，本申请提供一种光纤衰减长度测量装置。

作为优选，所述光纤衰减长度测量装置包括：

直线导轨，所述直线导轨上滑动设置不透光的滑台，所述滑台上设置有至少一个通孔，所述通孔的轴线与所述直线导轨的导向方向平行；

沿所述直线导轨的导向方向间隔设置有至少两个光纤支撑件，所述滑台位于两个所述光纤支撑件之间；

所述滑台上设置有与所述通孔一一对应连通的透光孔；

光线出射部件，用于通过各所述透光孔向所述通孔出射光线；和

光电探测元件，用于对光照强度进行采集。

作为优选，所述光线出射部件包括光源和分束器，所述分束器用于分解所述光源出射的光线，以生成多路光照强度相同的子光束。

作为优选，所述光源出射部件还包括用于对所述分束器输出的子光束进行扩束的扩束镜，所述扩束镜设置于所述透光孔的孔口处，来自所述光源的光线依次经过所述分束器、所述扩束镜和所述透光孔后出射至所述通孔。

作为优选，所述光纤支撑件具有至少一个用于支撑光纤的支撑区，所述支撑区与所述通孔一一对应同轴设置。

作为优选，所述光纤衰减长度测量装置还包括用于驱动所述滑台沿所述直线轨道作往复运动的驱动装置。

作为优选，所述直线导轨、所述光线出射部件、所述光电探测元件和所述驱动装置均设置于暗箱中。

作为本申请的第二方面，本申请提供一种光纤衰减长度测量系统。

作为优选，所述光纤衰减长度测量系统包括第一方面所述的光纤衰减长度测量装置和分析处理单元，所述分析处理单元用于根据所述光线出射部件位于不同位置时，所述光电探测元件采集的光照强度，确定光纤的衰减长度。

作为本申请的第三方面，本申请提供一种光纤衰减长度测量方法。

作为优选，所述光纤衰减长度测量方法利用如第二方面所述的光纤衰减长度测量系统进行测量，包括如下步骤：

用特定光照强度的光线照射穿设于所述通孔中的光纤；